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基于Nand Flash的BCH校验方法设计与实现 被引量:5
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作者 焦新泉 武慧军 +1 位作者 单彦虎 秦菲 《电测与仪表》 北大核心 2017年第22期59-64,共6页
针对传统汉明码ECC校验方法纠错能力差的特点,结合Nand Flash闪存内部组织结构,提出一种(4200,4096,8)的BCH码ECC校验方法。该方法采用并行编码方式,且对占用逻辑资源最多的译码器部分采用并行流水线分块译码,极大的提升了编译码效率。... 针对传统汉明码ECC校验方法纠错能力差的特点,结合Nand Flash闪存内部组织结构,提出一种(4200,4096,8)的BCH码ECC校验方法。该方法采用并行编码方式,且对占用逻辑资源最多的译码器部分采用并行流水线分块译码,极大的提升了编译码效率。以FPGA为验证平台,通过大量数据读写表明,该方法大大提高了存储可靠性,为目前大容量存储提供了参考,具有较高的实用价值。 展开更多
关键词 bch校验 并行编码 分块译码 FPGA 可靠性
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