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关于挂镀线行车相撞在程序上的改进
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作者 田国胜 顾德英 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第z2期616-617,629,共3页
上海新阳电子化学有限公司所生产的挂镀线用于TO220集成芯片的电镀。在该生产线试运行期间,时而出现行车相撞的情况,通过对程序的分析,行车相撞的产生是在行车行走过程中,由于传感器受到外部干扰,使得内部计数器在经过的槽位没有进行计... 上海新阳电子化学有限公司所生产的挂镀线用于TO220集成芯片的电镀。在该生产线试运行期间,时而出现行车相撞的情况,通过对程序的分析,行车相撞的产生是在行车行走过程中,由于传感器受到外部干扰,使得内部计数器在经过的槽位没有进行计数,这样就会造成行车多行走一个或几个槽位,行车相撞也就在所难免。在此在程序上加以改进以解决由于上述原因造成的行车相撞。 展开更多
关键词 挂镀线 行车 相撞 程序
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