针对当前自动测试系统(ATS,Automatic Test System)开发技术存在的不足,构建了一个ATS通用开发平台.该平台对ATS软硬件进行联合设计,用户只需通过接口输入被测设备信息及测试策略流程,平台即可自动完成大部分软硬件设计工作,包括仪器选...针对当前自动测试系统(ATS,Automatic Test System)开发技术存在的不足,构建了一个ATS通用开发平台.该平台对ATS软硬件进行联合设计,用户只需通过接口输入被测设备信息及测试策略流程,平台即可自动完成大部分软硬件设计工作,包括仪器选型、适配器设计、测试程序生成等.设计结果会传递到平台提供的ATS运行环境,供用户进行被测设备的测试、故障诊断.经实例验证,ATS软硬件联合自动设计技术可缩短开发周期,降低开发成本,提高设计的标准化、通用化程度.展开更多
自动测试设备(ATE,Automatic Test Equipment)中的开关矩阵由于使用不均衡,有些开关因频繁使用发生故障而有些开关却很少使用.开关故障会导致开关矩阵的拓扑结构发生改变,使路径的搜索变得复杂化.为了解决开关使用均衡的问题以及复杂开...自动测试设备(ATE,Automatic Test Equipment)中的开关矩阵由于使用不均衡,有些开关因频繁使用发生故障而有些开关却很少使用.开关故障会导致开关矩阵的拓扑结构发生改变,使路径的搜索变得复杂化.为了解决开关使用均衡的问题以及复杂开关拓扑结构下的路径搜索问题,定义了路径节点矩阵、开关状态矩阵以及可达矩阵,统一了开关矩阵的数学描述,并提出了基于可达矩阵的路径搜索算法;定义了开关及路径的可靠度,提出了基于可靠性的路径选择标准,解决了开关矩阵使用不均衡的问题;通过实例进行了算法验证.结果表明:该算法能够实现开关故障情况下的路径搜索、路径选择的优化和开关使用的均衡.展开更多
文摘针对当前自动测试系统(ATS,Automatic Test System)开发技术存在的不足,构建了一个ATS通用开发平台.该平台对ATS软硬件进行联合设计,用户只需通过接口输入被测设备信息及测试策略流程,平台即可自动完成大部分软硬件设计工作,包括仪器选型、适配器设计、测试程序生成等.设计结果会传递到平台提供的ATS运行环境,供用户进行被测设备的测试、故障诊断.经实例验证,ATS软硬件联合自动设计技术可缩短开发周期,降低开发成本,提高设计的标准化、通用化程度.
文摘自动测试设备(ATE,Automatic Test Equipment)中的开关矩阵由于使用不均衡,有些开关因频繁使用发生故障而有些开关却很少使用.开关故障会导致开关矩阵的拓扑结构发生改变,使路径的搜索变得复杂化.为了解决开关使用均衡的问题以及复杂开关拓扑结构下的路径搜索问题,定义了路径节点矩阵、开关状态矩阵以及可达矩阵,统一了开关矩阵的数学描述,并提出了基于可达矩阵的路径搜索算法;定义了开关及路径的可靠度,提出了基于可靠性的路径选择标准,解决了开关矩阵使用不均衡的问题;通过实例进行了算法验证.结果表明:该算法能够实现开关故障情况下的路径搜索、路径选择的优化和开关使用的均衡.
