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基于微分灵敏度计算的模拟集成电路故障定位
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作者 孙秀斌 陈光(礻禹) 谢永乐 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第6期813-815,共3页
提出了一种基于微分灵敏度计算的模拟集成电路故障定位方法。利用故障电路输出参数相对偏差的二阶 Taylor级数展开和 Newton- Raphson算法可以计算出各元件的相对偏差值。实验结果表明 ,该方法能够准确地进行模拟集成电路故障定位 ,特... 提出了一种基于微分灵敏度计算的模拟集成电路故障定位方法。利用故障电路输出参数相对偏差的二阶 Taylor级数展开和 Newton- Raphson算法可以计算出各元件的相对偏差值。实验结果表明 ,该方法能够准确地进行模拟集成电路故障定位 ,特别是软故障定位。 展开更多
关键词 模拟集成电路 灵敏度计算 故障定位 软故障 元件 算法 二阶
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