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^(79)Se的AMS测量方法研究 被引量:1
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作者 王晓波 王伟 +7 位作者 何明 管永精 董克君 武绍勇 林德雨 谢林波 窦亮 姜山 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第12期2317-2321,共5页
测定79Se时由于79Se尚无标准样品,需要建立79Se/Se(79Se、Se原子个数比,余同)的AMS测量方法。在79Se/Se的绝对测定中,为尽可能避免测量Se的同位素之间的差异,通常利用探测器测量79Se离子,本文用法拉第筒对78Se和80Se进行测量,但这造成... 测定79Se时由于79Se尚无标准样品,需要建立79Se/Se(79Se、Se原子个数比,余同)的AMS测量方法。在79Se/Se的绝对测定中,为尽可能避免测量Se的同位素之间的差异,通常利用探测器测量79Se离子,本文用法拉第筒对78Se和80Se进行测量,但这造成两个测量系统之间的系统误差。为避免这种系统误差,利用同一探测器测定79Se、78Se和80Se。考虑到78Se和80 Se的计数率非常高,在CIAE-AMS系统中的静电分析器前和靶室内安装衰减片以降低78Se和80Se的计数率。实验结果表明:通过两个衰减片的衰减作用,能将78Se和80Se的束流降低到半导体探测器的检测范围内,实现了样品中79Se/Se的绝对测定,得到79Se/Se为(2.08±0.10)×10-7,为准确测定79Se半衰期奠定了基础。 展开更多
关键词 加速器质谱79se测量 衰减片 半导体探测器
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