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题名不同污秽影响下劣化瓷绝缘子发热规律与红外特征分析
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作者
孙瑞筱
胡玉耀
蒋兴良
咸日常
陈雨
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机构
山东理工大学电气与电子工程学院
重庆大学雪峰山能源装备安全国家野外科学观测研究站
山东汇能电气有限公司
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出处
《电工技术学报》
北大核心
2025年第11期3591-3603,共13页
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基金
国家自然科学基金(52477147)
山东省高等学校“青创团队计划”(2023KJ148)
+1 种基金
山东省自然科学基金(ZR2023ME129)
湖南雪峰山能源装备安全国家野外科学观测研究站开放课题(N0RS-XFEES-23-04)资助项目。
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文摘
瓷绝缘子复杂多样的劣化形式及其表面污秽均会影响红外检测结果,从而造成对于劣化绝缘子的误判或漏判,给电力系统的安全稳定运行带来严重威胁。目前针对不同污秽作用下绝缘子串的发热特征及污秽对劣化绝缘子红外检测结果的影响少有研究。为此该文结合现场试验及有限元仿真研究了劣化位置、劣化阻值以及不同污秽对瓷绝缘子串发热规律及其红外成像的影响。研究结果表明:绝缘子串中任意一片绝缘子的温升随着其内阻的减小呈现先升高后降低的趋势。干燥污秽对劣化绝缘子发热的影响可忽略不计,而湿润污秽对发热的影响与劣化绝缘子在串中的位置有关,温度差值变化率最小仅有37.9%。在由表面固体污秽(A类污秽)和盐雾(B类污秽)构成的污秽中,雾水电导率对染污附盐密度具有附加作用,表面轻度污秽时其对绝缘子温升的影响大,重污秽时影响较小。在实际工程应用中,应选择绝缘子背风侧作为红外观测点,且不考虑相对湿度大于90%的情况。
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关键词
a/b类污秽
劣化绝缘子
发热特征
红外成像
温升
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Keywords
Category a/b contamination
faulty insulator
heating characteristics
infrared imaging
temperature rise
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分类号
TM216
[一般工业技术—材料科学与工程]
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