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题名可测试性设计中的优化问题及求解算法
被引量：4
- 1
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作者
胡 政
温熙森
钱彦岭
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机构
国防科技大学机械电子工程与仪器系
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出处
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2000年第11期42-44,共3页
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基金
`九五'国防预研重点课题资助
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文摘
近20年来,为了解决结构日益复杂的VLSI电路的测试问题,可测试性设计技术得到了迅速发展.在可测试性设计中,如何针对不同的对象及测试需求进行优化设计,以尽可能降低总体设计代价,是一个非常重要且亟待解决的问题.文章应用图论对可测试性设计中的两种典型优化问题进行了数学描述,并构造了相应的可行求解算法.
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关键词
可测试性设计
优化问题
求解算法
集成电路
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Keywords
： design－for－testability,boundary scan,optimization design design,topology
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名基于边界扫描的电路板测试性优化设计
被引量：6
- 2
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作者
刘冠军
温熙森
易晓山
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机构
国防科技大学机电工程与自动化学院
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出处
《计算机工程与科学》
CSCD
2002年第2期73-76,共4页
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文摘
基于边界扫描的电路板测试性设计中 ,迫切需要解决“测试性改善程度一定时 ,如何权衡设计使得设计复杂性最小”的问题。本文首先深入分析了该问题 ,证明它是一个NP 完全问题 ,然后基于贪婪策略提出了求解问题的优化算法。仿真实验表明 ,该算法能够得到较优化的电路板测试性设计方案。
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关键词
边界扫描
电路板
测试性优化设计
贪婪策略
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Keywords
boundary scan
optimal design for testability
circuit board
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分类号
TN41
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名基于边界扫描的非完全BS电路板测试诊断技术
被引量：13
- 3
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作者
王宁
董兵
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机构
空军第一航空学院
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第12期38-41,共4页
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文摘
由BS器件和非BS器件组装的非完全BS电路板仍将在今后相当长时间内广泛存在,如何对它们应用边界扫描测试是板级边界扫描测试技术需要研究的关键问题。本文从非完全BS电路板的测试性优化设计入手,举例说明了基于边界扫描的非完全BS电路板测试诊断技术的原理和过程。
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关键词
边界扫描
非完全BS电路板
测试性优化设计
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Keywords
boundary scan（BS）
part-BS board
optimal design for testability
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名计算机辅助测试性设计中的测试性改善最大化问题研究
被引量：1
- 4
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作者
刘冠军
易晓山
柳新民
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机构
国防科技大学机电工程与自动化学院
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出处
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2002年第17期16-17,51,共3页
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基金
国家部委重点项目
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文摘
基于边界扫描的计算机辅助电路板测试性设计中,面临着“设计复杂性一定时,如何权衡设计使得测试性改善最大”的问题。文章首先建立了该问题的数学描述,然后提出了求解问题的优化算法。仿真实验表明,该算法能够得到较优化的电路板测试性设计方案。
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关键词
最大化问题
计算机辅助测试性设计
边界扫描
测试性优化设计
电路板
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Keywords
Computer-aided designing for testability,boundary scan,optimal designing for testability
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分类号
TN41
[电子电信—微电子学与固体电子学]
TP391.76
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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题名基于CBPSO的板级电路测试性设计优化方法研究
被引量：2
- 5
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作者
吕晓明
刘晓芹
黄考利
刘耀周
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机构
军械工程学院
军械技术研究所
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出处
《系统工程学报》
CSCD
北大核心
2010年第6期791-797,共7页
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文摘
基于边界扫描的板级电路在测试性改善一定条件下,设计复杂性最小化问题属于组合优化问题,同时也是NP-难题.针对该组合优化问题提出了基于混沌二进制粒子群优化的求解方法.该方法在二进制粒子群优化的基础上,对当前最佳粒子以变概率进行混沌优化,引导粒子跳出局部最优继续在全局范围内搜索,从而克服二进制粒子群的"早熟"收敛.通过实例验证,该算法在优化效果、搜索效率等方面均获得了较好的结果.事实证明,该算法能有效地应用于板级电路的测试性设计优化.
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关键词
测试性设计
边界扫描
板级电路
混沌优化
二进制粒子群优化
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Keywords
design for testability
boundary scan
board-level circuit
chaos optimization
binary particle swarm optimization
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分类号
TP206
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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题名新颖综合可测试性设计优化算法
被引量：1
- 6
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作者
胡政
温熙森
刘冠军
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机构
国防科技大学
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出处
《电子测量技术》
2000年第3期7-9,共3页
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文摘
可测试性设计是提高产品质量、可靠性、维修性的重要手段。文中对混合技术电路板的可测试性设计问题进行了深入的研究,应用图论模型对综合应用多种可测试性机制进行优化设计的问题进行描述,并应用“贪婪”算法策略构造了一种可行的求解算法,并用实例对算法进行了验证。
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关键词
可测试性设计
边界扫描
混合技术
电路板
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Keywords
design - for - testability boundary scan Mixed - technology board optimization.
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分类号
TN410.2
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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