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题名透射电子显微镜原位低温高频信号样品杆的研制
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作者
裴科
张瑞轩
杨利廷
赵雪冰
车仁超
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机构
复旦大学先进材料实验室
复旦大学
之江实验室
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出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2023年第3期325-329,共5页
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基金
国家重点研发计划(No.2021YFA1200600)
国家自然科学基金资助项目(Nos.52231007,51725101,11727807,51672050,61790581,22088101)
浙江省实验室基础设施建设项目.
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文摘
透射电子显微镜原位测试技术是未来电子显微学发展的聚焦方向,尤其是多种原位条件复合的特种样品杆,是目前科学研究急需的重要设备。本文简述了原位低温高频脉冲信号样品杆的设计方案,通过样品杆和芯片设计,实现样品在低温、电流、磁场和高频脉冲信号作用下的原位测试,可以实现100~300 K的连续变温,实现10 MHz~2 GHz高频脉冲信号的通入,可对微纳尺度功能材料在多种物理场作用下的结构与性质变化进行深入的分析。
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关键词
透射电子显微镜
原位样品杆
高频脉冲信号
芯片设计
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Keywords
transmission electron microscopy
in-situ holder
high-frequency signal
chip design
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分类号
TG14
[金属学及工艺—金属材料]
O469
[理学—凝聚态物理]
O59
[理学—应用物理]
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