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高角度环形暗场Z衬度像成像原理及方法
被引量：
2
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作者
李鹏飞
《兵器材料科学与工程》
CAS
CSCD
2002年第4期44-47,共4页
通常的高分辨电子显微镜应用相位衬度成像 ,相位衬度的成像是由于透过样品的各级衍射束相互干涉的结果 ,其衬度取决于衍射束的相对相位关系。在扫描透射电子显微镜中使用高角度环形探测器 ,可以得到原子序数衬度像。介绍了高角度环形暗...
通常的高分辨电子显微镜应用相位衬度成像 ,相位衬度的成像是由于透过样品的各级衍射束相互干涉的结果 ,其衬度取决于衍射束的相对相位关系。在扫描透射电子显微镜中使用高角度环形探测器 ,可以得到原子序数衬度像。介绍了高角度环形暗场 (HAADF)的原子序数衬度 (Z -衬度 )
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关键词
原子序数衬度
高
分辨电子显微镜
Z衬度
高角度环形暗扬
成像原理
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职称材料
题名
高角度环形暗场Z衬度像成像原理及方法
被引量：
2
1
作者
李鹏飞
机构
内蒙古工业大学材料科学与工程学院
出处
《兵器材料科学与工程》
CAS
CSCD
2002年第4期44-47,共4页
文摘
通常的高分辨电子显微镜应用相位衬度成像 ,相位衬度的成像是由于透过样品的各级衍射束相互干涉的结果 ,其衬度取决于衍射束的相对相位关系。在扫描透射电子显微镜中使用高角度环形探测器 ,可以得到原子序数衬度像。介绍了高角度环形暗场 (HAADF)的原子序数衬度 (Z -衬度 )
关键词
原子序数衬度
高
分辨电子显微镜
Z衬度
高角度环形暗扬
成像原理
Keywords
Z-contrast
HAADF
imaging principle
分类号
TN16 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
高角度环形暗场Z衬度像成像原理及方法
李鹏飞
《兵器材料科学与工程》
CAS
CSCD
2002
2
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