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面向FPGA部署的改进YOLO铝片表面缺陷检测系统 被引量:2
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作者 戴伟杰 王衍学 +1 位作者 李昕鸣 王祎颜 《电子测量与仪器学报》 CSCD 北大核心 2023年第9期160-167,共8页
在工业生产中,产品缺陷的智能检测是至关重要的。现场可编程门阵列(FPGA)是一种具有算力强、功耗低等特点的嵌入式设备,能够将小型卷积神经网络部署其中。本文基于Xilinx Zynq系列FPGA设计了一套改进YOLOv2目标检测算法,在模型框架中增... 在工业生产中,产品缺陷的智能检测是至关重要的。现场可编程门阵列(FPGA)是一种具有算力强、功耗低等特点的嵌入式设备,能够将小型卷积神经网络部署其中。本文基于Xilinx Zynq系列FPGA设计了一套改进YOLOv2目标检测算法,在模型框架中增加重排序层,对切片图进行并行计算处理后再重组,完成铝片表面缺陷的检测。该算法经过高层次设计(HLS)后,进行RTL转换与IP核封装,并导入到工程项目中完成SoC设计。通过综合、布局布线后生成比特流文件,导入至PYNQ镜像中,完成对铝片表面的工业缺陷检测。实验结果表明,本系统能够准确地检测出缺陷,并将功耗降低至2.494 W。 展开更多
关键词 FPGA YOLOv2算法 高层次综合设计 PYNQ 异构计算
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