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高层次时序电路可靠度估计方法研究进展 被引量:1
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作者 欧阳城添 陈莉莉 王曦 《计算机科学》 CSCD 北大核心 2017年第B11期33-38,54,共7页
时序电路的可靠性问题日益成为人们关注的焦点。讨论高层次时序电路的可靠性评估方法,重点研究分析了贝叶斯可靠性分析方法、多阶段可靠性分析方法和基于概率转移矩阵的时序电路可靠性分析方法。以ISCAS 89基准电路为实验对象,选择几种... 时序电路的可靠性问题日益成为人们关注的焦点。讨论高层次时序电路的可靠性评估方法,重点研究分析了贝叶斯可靠性分析方法、多阶段可靠性分析方法和基于概率转移矩阵的时序电路可靠性分析方法。以ISCAS 89基准电路为实验对象,选择几种典型的高层次时序电路可靠性评估方法进行实验和分析。研究结果和实验结果表明,电路的抽象级别越高,评估方法所获得结果的准确性就越低,评估时间开销越小;同一抽象层次上,不同类型的方法相比,仿真模拟方法的准确性高但时间开销大,解析方法省时但准确性较低。 展开更多
关键词 时序电路 可靠性评估 仿真模拟方法 模型解析方法 软差错
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基于Copula函数的多性能参数雷达电路板可靠性评估 被引量:3
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作者 李伟 梁玉英 +2 位作者 蔡金燕 吕萌 张国龙 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 2014年第11期103-107,共5页
如何快速准确地评估雷达装备的可靠性是目前研究的重要课题,"多参数、模型复杂、难计算"是其中的主要问题,为此,以某型雷达18V20k Hz信号板为对象,利用加速试验数据进行可靠性分析。通过对试验数据的分析,选择2个具有代表性... 如何快速准确地评估雷达装备的可靠性是目前研究的重要课题,"多参数、模型复杂、难计算"是其中的主要问题,为此,以某型雷达18V20k Hz信号板为对象,利用加速试验数据进行可靠性分析。通过对试验数据的分析,选择2个具有代表性的性能退化参数,利用Wiener过程描述其退化过程,考虑各参数之间的相关性,运用Copula函数建立了基于多性能参数的可靠性分析模型,采用了MCMC方法进行参数估计,解决模型过于复杂难以估计的问题。最后通过雷达电路板电冲击试验验证了该方法的有效性,同时也为多性能参数下雷达板级电路可靠性分析提供了技术支撑。 展开更多
关键词 电冲击试验 雷达电路 可靠性评估 多性能参数 COPULA函数
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一种基于迭代PTM模型的电路可靠性评估方法 被引量:5
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作者 肖杰 江建慧 朱旭光 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 2014年第7期1508-1520,共13页
纳米工艺的快速发展既给电路设计创造了新的机会,同时也带来了新的挑战,基于纳米器件的电路可靠性设计便是主要挑战之一,因此有必要研究在设计的早期阶段便能准确地评估电路可靠性的方法.考虑到经典的概率转移矩阵方法在电路可靠性计算... 纳米工艺的快速发展既给电路设计创造了新的机会,同时也带来了新的挑战,基于纳米器件的电路可靠性设计便是主要挑战之一,因此有必要研究在设计的早期阶段便能准确地评估电路可靠性的方法.考虑到经典的概率转移矩阵方法在电路可靠性计算中的优势与不足,文中提出了宏门的概念和以宏门为单位的迭代概率转移矩阵模型,并设计了相应的电路可靠性评估算法,可计算从原始输入到任意引线位置的电路可靠度,该算法的复杂性与宏门的数目成线性关系.理论分析与在74系列电路和ISCAS85基准电路上的实验结果证明了文中所提方法的准确性、有效性及潜在的应用价值. 展开更多
关键词 门级电路可靠性评估 宏门 逻辑划分 概率方法 迭代概率转移矩阵模型
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“集成电路力电检测与可靠性评估”专题征稿通知
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《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第11期2874-2874,共1页
随着集成电路设计技术和制造工艺的飞速发展,针对高性能混合集成电路的高速高精度检测技术、基于物理/电特性的力电综合检测及寿命预测技术等,逐渐成为集成电路测试发展的前沿和热点方向,综合考虑应力特性及电特性的力电检测技术对... 随着集成电路设计技术和制造工艺的飞速发展,针对高性能混合集成电路的高速高精度检测技术、基于物理/电特性的力电综合检测及寿命预测技术等,逐渐成为集成电路测试发展的前沿和热点方向,综合考虑应力特性及电特性的力电检测技术对提高集成电路检测效率、故障定位、提升应用系统的可靠性和安全性等,具有重要的价值和意义。 展开更多
关键词 集成电路设计 可靠性评估 检测技术 征稿通知 专题 混合集成电路 集成电路测试 高速高精度
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基于可靠性真值表的JTC补偿电容重要性评估 被引量:1
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作者 武晓春 洪玲 《北京航空航天大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第10期2579-2586,共8页
为实现不同位置补偿电容的重要性评估,得到对无绝缘轨道电路(JTC)影响较大的补偿电容位置,提出一种基于可靠性真值表的JTC补偿电容重要性评估方法。建立JTC调整态和分路态模型,并仿真得到补偿电容断线时全部故障类型的调整态接收电压和... 为实现不同位置补偿电容的重要性评估,得到对无绝缘轨道电路(JTC)影响较大的补偿电容位置,提出一种基于可靠性真值表的JTC补偿电容重要性评估方法。建立JTC调整态和分路态模型,并仿真得到补偿电容断线时全部故障类型的调整态接收电压和分路态分路电流幅值曲线;提取相应的接收电压和最小分路电流与其阈值进行对比分析,建立JTC可靠性真值表;基于可靠性真值表计算各补偿电容的重要度系数,并通过柱形图确定对JTC影响较大的补偿电容位置。结果表明:靠近接收端的第2个和第3个补偿电容对JTC的影响较大。所提方法可协助现场维修人员确定各补偿电容的维护优先级,为补偿电容的重点监测提供依据。 展开更多
关键词 无绝缘轨道电路 补偿电容 断线故障 可靠性真值表 重要性评估
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小子样正态寿命型IC的可靠性评估
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作者 邹心遥 姚若河 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2013年第3期227-230,共4页
面对集成电路(IC)在寿命试验中难以得到大量失效数据的小子样情形,提出了基于最小二乘支持向量机(LSSVM)的小子样正态寿命型IC可靠性评估方法。该方法的主要思想是基于寿命试验数据建立最小二乘支持向量机回归模型,根据该模型计算出正... 面对集成电路(IC)在寿命试验中难以得到大量失效数据的小子样情形,提出了基于最小二乘支持向量机(LSSVM)的小子样正态寿命型IC可靠性评估方法。该方法的主要思想是基于寿命试验数据建立最小二乘支持向量机回归模型,根据该模型计算出正态分布的参数,从而进行可靠性评估。用蒙特卡罗方法研究了截尾失效情况下该方法在正态寿命型IC平均寿命评估应用中的可行性,同时与常用的最小二乘回归(LSR)法和极大似然估计(MLE)法相比,结果表明,基于LSSVM的方法能更精确地反映小子样下IC的可靠性,能为评估小子样正态寿命型IC的可靠性提供一种新的有效途径。 展开更多
关键词 最小二乘支持向量机 可靠性评估 正态分布 平均寿命 集成电路
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基于云理论的JTC可靠性实时评估方法 被引量:3
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作者 孙哲 赵林海 《铁道学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第2期89-96,共8页
针对目前无绝缘轨道电路JTC可靠性分析方法无法实时反映指定JTC系统健康状况的不足,提出基于云理论的JTC可靠性实时评估方法。根据TCR远程监测系统获取的JTC实时状态信息,建立实时状态下JTC可靠性模型,并以实时状态下的平均故障前时间... 针对目前无绝缘轨道电路JTC可靠性分析方法无法实时反映指定JTC系统健康状况的不足,提出基于云理论的JTC可靠性实时评估方法。根据TCR远程监测系统获取的JTC实时状态信息,建立实时状态下JTC可靠性模型,并以实时状态下的平均故障前时间作为可靠性实时评估指标。基于云理论,建立周边环境数据与元件失效率之间的失效率适应云模型。通过建立系统可靠性评价集云,对实时外部环境和设备状态条件下的JTC可靠性进行评估,并得出评估结果。结果表明,基于云理论的JTC可靠性实时评估方法能够正确、客观地对JTC的可靠性进行实时评估,解决可变条件下JTC系统可靠性的实时评价问题。 展开更多
关键词 可靠性实时评估 无绝缘轨道电路 适应云模型 平均故障前时间
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基于概率转移矩阵的串行电路可靠度计算方法 被引量:18
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作者 王真 江建慧 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第2期241-247,共7页
概率转移矩阵(Probabilistic Transfer Matrix,PTM)方法是一种能够在门级比较精确地估计差错对电路可靠性影响的方法,但目前其实现方法只能适用于较小规模的电路.本文引入了电路划分的思想,先把电路分割成一组适宜用原始PTM方法直接计... 概率转移矩阵(Probabilistic Transfer Matrix,PTM)方法是一种能够在门级比较精确地估计差错对电路可靠性影响的方法,但目前其实现方法只能适用于较小规模的电路.本文引入了电路划分的思想,先把电路分割成一组适宜用原始PTM方法直接计算其可靠度的模块,然后计算出这些模块的可靠度,再依据串行可靠度模型,将所有模块可靠度合成为整个电路的可靠度.本文用实验的方法通过对74系列电路的分析得到了合适的电路分割参数,即分割宽度,再进一步对ISCAS85基准电路进行了可靠度的计算,结果表明新方法可以适用于更大规模的无冗余组合电路.通过与依据美军标MIL-HDBK-217所算得的可靠度的比较,验证了本文所提出的方法的合理性. 展开更多
关键词 高层次电路可靠性评估 串行可靠度模型 概率转移矩阵 电路分割
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结合版图结构信息的基本门电路故障概率估计 被引量:6
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作者 肖杰 江建慧 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第2期235-240,共6页
在门级电路可靠性估计方法中,基本门的故障概率P一般采用经验值或人为设定.本文结合基本门的版图结构信息,综合考虑了设计尺寸及缺陷特性等因素,分析了不同缺陷模型下的粒径分布数据,给出了缺陷模型粒径概率密度分布函数的参数c的计算算... 在门级电路可靠性估计方法中,基本门的故障概率P一般采用经验值或人为设定.本文结合基本门的版图结构信息,综合考虑了设计尺寸及缺陷特性等因素,分析了不同缺陷模型下的粒径分布数据,给出了缺陷模型粒径概率密度分布函数的参数c的计算算法,并推导出了P的计算模型.理论分析与在ISCAS85及74系列电路上的实验结果表明,缺陷的分段线性插值模型能较准确地描述电路可靠性模型的低层真实缺陷.对ISCAS85基准电路采用本文方法所得到的电路可靠度与采用美国军用标准MIL-HDBK-217方法所得到的计算结果进行了比较,验证了本文所建P模型的合理性. 展开更多
关键词 缺陷模型 缺陷粒径概率分布 版图结构信息 基本门故障概率 门级电路可靠性评估
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