针对高分辨透射电子显微镜(high⁃resolution transmission electron microscope,HRTEM)所拍摄的图像存在像差造成的分辨率下降问题,本文提出一种自动测量像差参数的方案:以相对随机的方式,模仿实验像与模拟像的人工对比过程,可以求解电...针对高分辨透射电子显微镜(high⁃resolution transmission electron microscope,HRTEM)所拍摄的图像存在像差造成的分辨率下降问题,本文提出一种自动测量像差参数的方案:以相对随机的方式,模仿实验像与模拟像的人工对比过程,可以求解电镜像差。求得的像差结合改进单图重建波函数算法,可以去除图像的像差影响并获得单张图的波函数的相位像。本文运用模拟像验证后,方案与算法用于单层二硫化钼的实验HRTEM像,测得像差参数精度高,校正后的图像细节更优。本文算法计算精度好、效率高,有望应用于针对晶格像的像差测量问题。展开更多
高分辨透射电子显微镜(transmission electron microscopy,TEM)原位实验是在纳米乃至皮米尺度上实时研究物质在不同场环境中的原子和电子结构变化、探寻材料在使役条件下性能根源的一类实验研究方法,在基础科学探索与产业技术研发的源...高分辨透射电子显微镜(transmission electron microscopy,TEM)原位实验是在纳米乃至皮米尺度上实时研究物质在不同场环境中的原子和电子结构变化、探寻材料在使役条件下性能根源的一类实验研究方法,在基础科学探索与产业技术研发的源头创新中起着不可或缺的作用.本文详细介绍了高分辨透射电镜原位实验研究的技术原理以及应用进展.按照原位电镜实验实现手段进行分类,概述原位电子束照射、环境透射电镜、四维超快电镜、原位加热、加电、力学、光学、液体、气体样品杆等各类高分辨原位电镜实验的实验技术、原理以及应用的最新进展.随着技术的进步,高分辨原位电镜实验正向着芯片化、复合化和定量化的方向发展,而目前所遇到的电子束、磁场的干扰以及成像速度问题相信在不远的将来会得到解决.展开更多
The high resolution transmission electron micrographs(HRTEM) of lamellar crystal of polyethylene(PE) obtained from the melt were successfully obtained by using high resolution electron microscopy,although PE is a rela...The high resolution transmission electron micrographs(HRTEM) of lamellar crystal of polyethylene(PE) obtained from the melt were successfully obtained by using high resolution electron microscopy,although PE is a relatively irradiation sensitive polymer.The HRTEM images with a clear one-dimensional structure(reported) here were recorded in a transmission electron microscope(TEM) operated at 200 kV.The spacing(between) the fringes was found to be 0.37 nm,which is close to the d-spacing of(200) plane. Micrographs image were processed by using optical filtering methods to improve the signal-to-noise ratio.展开更多
文摘针对高分辨透射电子显微镜(high⁃resolution transmission electron microscope,HRTEM)所拍摄的图像存在像差造成的分辨率下降问题,本文提出一种自动测量像差参数的方案:以相对随机的方式,模仿实验像与模拟像的人工对比过程,可以求解电镜像差。求得的像差结合改进单图重建波函数算法,可以去除图像的像差影响并获得单张图的波函数的相位像。本文运用模拟像验证后,方案与算法用于单层二硫化钼的实验HRTEM像,测得像差参数精度高,校正后的图像细节更优。本文算法计算精度好、效率高,有望应用于针对晶格像的像差测量问题。
文摘高分辨透射电子显微镜(transmission electron microscopy,TEM)原位实验是在纳米乃至皮米尺度上实时研究物质在不同场环境中的原子和电子结构变化、探寻材料在使役条件下性能根源的一类实验研究方法,在基础科学探索与产业技术研发的源头创新中起着不可或缺的作用.本文详细介绍了高分辨透射电镜原位实验研究的技术原理以及应用进展.按照原位电镜实验实现手段进行分类,概述原位电子束照射、环境透射电镜、四维超快电镜、原位加热、加电、力学、光学、液体、气体样品杆等各类高分辨原位电镜实验的实验技术、原理以及应用的最新进展.随着技术的进步,高分辨原位电镜实验正向着芯片化、复合化和定量化的方向发展,而目前所遇到的电子束、磁场的干扰以及成像速度问题相信在不远的将来会得到解决.
文摘The high resolution transmission electron micrographs(HRTEM) of lamellar crystal of polyethylene(PE) obtained from the melt were successfully obtained by using high resolution electron microscopy,although PE is a relatively irradiation sensitive polymer.The HRTEM images with a clear one-dimensional structure(reported) here were recorded in a transmission electron microscope(TEM) operated at 200 kV.The spacing(between) the fringes was found to be 0.37 nm,which is close to the d-spacing of(200) plane. Micrographs image were processed by using optical filtering methods to improve the signal-to-noise ratio.
