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拼接法制备单晶金刚石的拼接缝形貌与残余应力 被引量:1
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作者 刘俊杰 关春龙 +6 位作者 杨国永 易剑 刘帅伟 王祥兵 宋惠 江南 西村一仁 《中国表面工程》 CSCD 北大核心 2024年第6期247-256,共10页
金刚石材料作为功能性新材料之一,具有超高的禁带宽度和高的热导率,被誉为“终极半导体”。受到学术界和工业界的广泛关注,然而受制于金刚石的沉积机理,英寸级、高品质单晶金刚石暂未实现低成本制备。为了解决半导体领域所需的单晶金刚... 金刚石材料作为功能性新材料之一,具有超高的禁带宽度和高的热导率,被誉为“终极半导体”。受到学术界和工业界的广泛关注,然而受制于金刚石的沉积机理,英寸级、高品质单晶金刚石暂未实现低成本制备。为了解决半导体领域所需的单晶金刚石在大尺寸、高品质方面受到的限制,利用15kW微波等离子体化学气相沉积(MPCVD)设备,采用拼接法制备了大尺寸单晶金刚石,研究了拼接界面角度对拼接缝微观形貌与应力的影响。利用激光共聚焦显微镜(CLSM)以及扫描电镜(SEM)对沉积后的拼接缝进行微观形貌观察;利用拉曼光谱(Raman)和荧光光谱(PL)对沉积后的拼接缝进行表征及应力分析;利用透射电镜(TEM)对拼接缝的微观组织进行了结构表征。研究结果表明:采用60°的拼接界面角度进行马赛克拼接沉积,制备的外延层在拼接缝更平滑,拼接缝处的残余应力最低,仅为0.42 GPa。研究结果为大尺寸(英寸级)单晶金刚石基板的制备提供了一种研究方向。 展开更多
关键词 微波等离子体化学气相沉积法(MPCVD) 马赛克拼接 界面调控 同质外延 单晶金刚石
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