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面阵电荷耦合器件错位成像的建模与仿真
1
作者
李亚鹏
何斌
王文华
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2015年第9期2767-2773,共7页
为了定量研究面阵电荷耦合器件(CCD)错位成像技术图像质量的提高以及CCD像元填充因子对图像质量的影响,建立了仿真不同像元填充因子的面阵CCD错位成像的数学模型。以Matlab为平台,不考虑噪声的干扰,对ISO12233标准分辨率测试卡子图像进...
为了定量研究面阵电荷耦合器件(CCD)错位成像技术图像质量的提高以及CCD像元填充因子对图像质量的影响,建立了仿真不同像元填充因子的面阵CCD错位成像的数学模型。以Matlab为平台,不考虑噪声的干扰,对ISO12233标准分辨率测试卡子图像进行了仿真,结果表明,CCD像元填充因子为100%时,与普通成像模式相比,对角错位、四点错位成像模式图像的灰度平均梯度分别提高了2.9970、3.4136,拉普拉斯能量分别提高了0.5676、0.7478,且CCD像元填充因子为其他值时,相较于普通成像模式,对角错位、四点错位成像模式图像的GMG和EOL均得到提高;采用四点错位成像模式时,与填充因子为100%的面阵CCD相比,填充因子为69%、44%、25%的面阵CCD四点错位模式图像的灰度平均梯度分别提高了1.433 0、3.337 3、5.153 2,拉普拉斯能量分别提高了0.638 0、1.704 4、3.196 8,且采用其他成像模式时,填充因子为100%、69%、44%、25%的图像的GMG和EOL均不断提高。研究表明,面阵CCD错位成像技术能够提高图像质量,且四点错位成像模式图像质量优于对角错位成像模式;在满足信噪比指标要求的前提下,对于面阵CCD同一成像模式,像元填充因子越小,图像质量越高。
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关键词
面阵电荷耦合器件
错位成像
仿真模型
填充因子
灰度平均梯度
拉普拉斯能量
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职称材料
面阵电荷耦合器件图像的实时处理
2
作者
李兰君
邓国扬
《中南工学院学报》
2000年第2期22-25,共4页
本文介绍了对面阵电荷耦合器件图像进行高速采集并从中获取目标信号的硬件设计方法和实验结果 ;给出了目标识别及定位的算法流程图 ,只要连续两行的目标信号 ,从而使存储空间大大减少 。
关键词
面阵电荷耦合器件
数据采集
目标识别
实时处理
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职称材料
电离辐照诱发面阵电荷耦合器暗信号增大试验
被引量:
4
3
作者
王祖军
罗通顶
+2 位作者
杨少华
刘敏波
盛江坤
《中国空间科学技术》
EI
CSCD
北大核心
2014年第4期72-78,共7页
针对电荷耦合器件(CCD)在空间轨道环境中应用时易受到辐射损伤的影响,对面阵CCD的电离辐照损伤效应问题进行了试验研究。首先,通过开展面阵CCD60Coγ射线电离辐照效应试验,在暗场条件下测试了面阵CCD辐照后输出信号随积分时间的变化,并...
针对电荷耦合器件(CCD)在空间轨道环境中应用时易受到辐射损伤的影响,对面阵CCD的电离辐照损伤效应问题进行了试验研究。首先,通过开展面阵CCD60Coγ射线电离辐照效应试验,在暗场条件下测试了面阵CCD辐照后输出信号随积分时间的变化,并拟合计算出暗信号斜率。然后,对比分析了不同偏置条件下辐照后暗信号退化的试验规律;分析了不同偏置条件下辐照后暗信号的退火恢复情况;分析了不同积分时间、不同总剂量下的暗信号不均匀性的变化规律。最后,阐述了电离辐照损伤诱发面阵CCD暗信号增大的物理机制。结果表明:面阵CCD对电离辐照损伤很敏感,在进行航天器成像系统设计时,要充分考虑CCD受电离辐照损伤带来的影响。
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关键词
面阵电荷耦合器件
电离辐照
暗信号
退火
空间轨道环境
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职称材料
1.319μm连续YAG激光束对可见光面阵CCD系统的干扰研究
被引量:
27
4
作者
张大勇
赵剑衡
+2 位作者
王伟平
刘仓理
唐小松
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第11期1050-1052,共3页
利用1.319μm连续钇铝石榴石激光对可见光面阵CCD系统进行干扰实验,分析了该CCD系统发生干扰饱和的原因,计算了1.319μm激光辐照面阵可见光CCD的干扰饱和阈值,利用实验数据在定量上验证了计算结果。当像面上激光功率密度达到102W/cm2...
利用1.319μm连续钇铝石榴石激光对可见光面阵CCD系统进行干扰实验,分析了该CCD系统发生干扰饱和的原因,计算了1.319μm激光辐照面阵可见光CCD的干扰饱和阈值,利用实验数据在定量上验证了计算结果。当像面上激光功率密度达到102W/cm2量级时,CCD出现饱和串音,达到103W/cm2量级时,出现全屏饱和。
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关键词
钇铝石榴石激光
面阵电荷耦合器件
系统
饱和阈值
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职称材料
题名
面阵电荷耦合器件错位成像的建模与仿真
1
作者
李亚鹏
何斌
王文华
机构
中国科学院长眷光学精密机械与物理研究所
中国科学院大学
出处
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2015年第9期2767-2773,共7页
基金
国家863高技术研究发展计划(863-2-5-1-13B)
文摘
为了定量研究面阵电荷耦合器件(CCD)错位成像技术图像质量的提高以及CCD像元填充因子对图像质量的影响,建立了仿真不同像元填充因子的面阵CCD错位成像的数学模型。以Matlab为平台,不考虑噪声的干扰,对ISO12233标准分辨率测试卡子图像进行了仿真,结果表明,CCD像元填充因子为100%时,与普通成像模式相比,对角错位、四点错位成像模式图像的灰度平均梯度分别提高了2.9970、3.4136,拉普拉斯能量分别提高了0.5676、0.7478,且CCD像元填充因子为其他值时,相较于普通成像模式,对角错位、四点错位成像模式图像的GMG和EOL均得到提高;采用四点错位成像模式时,与填充因子为100%的面阵CCD相比,填充因子为69%、44%、25%的面阵CCD四点错位模式图像的灰度平均梯度分别提高了1.433 0、3.337 3、5.153 2,拉普拉斯能量分别提高了0.638 0、1.704 4、3.196 8,且采用其他成像模式时,填充因子为100%、69%、44%、25%的图像的GMG和EOL均不断提高。研究表明,面阵CCD错位成像技术能够提高图像质量,且四点错位成像模式图像质量优于对角错位成像模式;在满足信噪比指标要求的前提下,对于面阵CCD同一成像模式,像元填充因子越小,图像质量越高。
关键词
面阵电荷耦合器件
错位成像
仿真模型
填充因子
灰度平均梯度
拉普拉斯能量
Keywords
subpixel imaging of area CCD
simulation model
fill factor
gray mean gradient
energy of Laplacian
分类号
TN386.5 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
面阵电荷耦合器件图像的实时处理
2
作者
李兰君
邓国扬
机构
中南工学院电气工程系
出处
《中南工学院学报》
2000年第2期22-25,共4页
文摘
本文介绍了对面阵电荷耦合器件图像进行高速采集并从中获取目标信号的硬件设计方法和实验结果 ;给出了目标识别及定位的算法流程图 ,只要连续两行的目标信号 ,从而使存储空间大大减少 。
关键词
面阵电荷耦合器件
数据采集
目标识别
实时处理
Keywords
area CCD
data collecting
target recognition
real-time processing
分类号
TN622 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
电离辐照诱发面阵电荷耦合器暗信号增大试验
被引量:
4
3
作者
王祖军
罗通顶
杨少华
刘敏波
盛江坤
机构
西北核技术研究所强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室
出处
《中国空间科学技术》
EI
CSCD
北大核心
2014年第4期72-78,共7页
基金
国家自然科学基金(11305126
11235008)
国家重点试验室基金(SKLIPR1211)资助项目
文摘
针对电荷耦合器件(CCD)在空间轨道环境中应用时易受到辐射损伤的影响,对面阵CCD的电离辐照损伤效应问题进行了试验研究。首先,通过开展面阵CCD60Coγ射线电离辐照效应试验,在暗场条件下测试了面阵CCD辐照后输出信号随积分时间的变化,并拟合计算出暗信号斜率。然后,对比分析了不同偏置条件下辐照后暗信号退化的试验规律;分析了不同偏置条件下辐照后暗信号的退火恢复情况;分析了不同积分时间、不同总剂量下的暗信号不均匀性的变化规律。最后,阐述了电离辐照损伤诱发面阵CCD暗信号增大的物理机制。结果表明:面阵CCD对电离辐照损伤很敏感,在进行航天器成像系统设计时,要充分考虑CCD受电离辐照损伤带来的影响。
关键词
面阵电荷耦合器件
电离辐照
暗信号
退火
空间轨道环境
Keywords
Array charge coupled device
Ionizing radiation
Dark signal
Anneal
Spaceorbit environment
分类号
TN386.5 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
1.319μm连续YAG激光束对可见光面阵CCD系统的干扰研究
被引量:
27
4
作者
张大勇
赵剑衡
王伟平
刘仓理
唐小松
机构
中国工程物理研究院流体物理研究所
出处
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第11期1050-1052,共3页
基金
国家863计划项目资助课题
文摘
利用1.319μm连续钇铝石榴石激光对可见光面阵CCD系统进行干扰实验,分析了该CCD系统发生干扰饱和的原因,计算了1.319μm激光辐照面阵可见光CCD的干扰饱和阈值,利用实验数据在定量上验证了计算结果。当像面上激光功率密度达到102W/cm2量级时,CCD出现饱和串音,达到103W/cm2量级时,出现全屏饱和。
关键词
钇铝石榴石激光
面阵电荷耦合器件
系统
饱和阈值
Keywords
YAG laser
Array CCD detectors
Saturation threshold
分类号
TN142 [电子电信—物理电子学]
TN215 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
面阵电荷耦合器件错位成像的建模与仿真
李亚鹏
何斌
王文华
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2015
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
面阵电荷耦合器件图像的实时处理
李兰君
邓国扬
《中南工学院学报》
2000
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
3
电离辐照诱发面阵电荷耦合器暗信号增大试验
王祖军
罗通顶
杨少华
刘敏波
盛江坤
《中国空间科学技术》
EI
CSCD
北大核心
2014
4
在线阅读
下载PDF
职称材料
4
1.319μm连续YAG激光束对可见光面阵CCD系统的干扰研究
张大勇
赵剑衡
王伟平
刘仓理
唐小松
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003
27
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职称材料
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