O484．5 2006065262纳米多孔氧化铝薄膜厚度的反射光谱测量方法研究=Re- search of thickness measurement of nano-porous alumina films based on reflection spectra[刊,中]/熊丹(浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江,杭州(3100...O484．5 2006065262纳米多孔氧化铝薄膜厚度的反射光谱测量方法研究=Re- search of thickness measurement of nano-porous alumina films based on reflection spectra[刊,中]/熊丹(浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江,杭州(310027)),章海军…//光学仪器．—2006,28(2)．—89-92提出一种基于反射光谱的纳米多孔氧化铝(PA)薄膜厚度测量的方法。当白光照射PA薄膜时,分别从薄膜上、下表面反射的两束光线发生干涉。根据布喇格公式。展开更多
文摘O484．5 2006065262纳米多孔氧化铝薄膜厚度的反射光谱测量方法研究=Re- search of thickness measurement of nano-porous alumina films based on reflection spectra[刊,中]/熊丹(浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江,杭州(310027)),章海军…//光学仪器．—2006,28(2)．—89-92提出一种基于反射光谱的纳米多孔氧化铝(PA)薄膜厚度测量的方法。当白光照射PA薄膜时,分别从薄膜上、下表面反射的两束光线发生干涉。根据布喇格公式。
