O484.5 94064019纳米厚度非透明介质薄膜的测量=Measuringand calculating the thickness of non-transparentdielectric thin film[刊,中]/缪建伟,崔明启,唐鄂生,修立松(中科院高能物理研究所.北京(100039))//光学精密工程.—1994,2(1).
文摘O484.5 94064019纳米厚度非透明介质薄膜的测量=Measuringand calculating the thickness of non-transparentdielectric thin film[刊,中]/缪建伟,崔明启,唐鄂生,修立松(中科院高能物理研究所.北京(100039))//光学精密工程.—1994,2(1).