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多个独立样本非参数检验中的Jonckheere-Terpstra方法 被引量:8
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作者 王伏虎 赵喜仓 《统计与决策》 CSSCI 北大核心 2009年第24期158-159,共2页
Jonckheere-Terpstra检验在多个独立样本非参数检验中,可以检验多个独立样本的位置参数是否持续上升和下降,和常用的Kruskal-Wallis检验相比,Jonckheere-Terpstra检验的计算过程相对复杂,文章对Jonckheere-Terpstra检验统计量进行了梳理... Jonckheere-Terpstra检验在多个独立样本非参数检验中,可以检验多个独立样本的位置参数是否持续上升和下降,和常用的Kruskal-Wallis检验相比,Jonckheere-Terpstra检验的计算过程相对复杂,文章对Jonckheere-Terpstra检验统计量进行了梳理,然后结合案例介绍了Jonckheere-Terpstra检验的实际应用。 展开更多
关键词 多个独立样本参数检验 Jonckheere—Terpstra检验 Kruskal—Wallis检验 位置参数
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相依同分布样本极值的分布
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作者 朱宏 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1991年第2期186-190,共5页
讨论了相互不独立的同分布样本的极大值和极小值的分布,给出了分布的部分解析表达式。作为这个结果的应用,还讨论了一类重要统计量的分布的解析表达式,给出了相应的结果。
关键词 极值 分布 统计量 非独立样本
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