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X射线衍射分析非晶二氧化硅结构及其物化性质的研究 被引量:20
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作者 王国光 水淼 岳林海 《无机化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2002年第10期991-996,共6页
研究用不同水玻璃浓度合成的4个非晶沉淀二氧化硅样品的物化性质、近红外、热重差热行为。并用X射线衍射手段分析了非晶二氧化硅的结构参数,结果表明样品的短程有序范围在5~6个原子距离。最近邻配位数与最近邻原子距离的变化与样品的... 研究用不同水玻璃浓度合成的4个非晶沉淀二氧化硅样品的物化性质、近红外、热重差热行为。并用X射线衍射手段分析了非晶二氧化硅的结构参数,结果表明样品的短程有序范围在5~6个原子距离。最近邻配位数与最近邻原子距离的变化与样品的吸油值相一致,一定程度上反映了样品结构的紧密程度。 展开更多
关键词 X射线衍射分析 非晶二氧化硅 结构 非晶结构参数 XRD 热重-差热 近红外光谱
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