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静电衰减时间常数测试仪的原理与设计
被引量：
5
1
作者
范立思
魏光辉
+1 位作者
魏明
翟景升
《包装工程》
CAS
CSCD
北大核心
2001年第2期41-42,53,共3页
比较了国内外常用的静电衰减时间测试仪器的优缺点 ,在此基础上提出新的测试方法 ,介绍了一种基于单片机的静电衰减时间测试仪器的研制过程。并对其测试结果作了分析讨论。
关键词
材料
防
静电
性
静电衰减时间常数测试仪
原理
设计
衰减
时间
电荷
衰减
半衰期
测试
方法
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
静电衰减时间常数测试仪的原理与设计
被引量：
5
1
作者
范立思
魏光辉
魏明
翟景升
机构
军械工程学院静电技术研究所
出处
《包装工程》
CAS
CSCD
北大核心
2001年第2期41-42,53,共3页
文摘
比较了国内外常用的静电衰减时间测试仪器的优缺点 ,在此基础上提出新的测试方法 ,介绍了一种基于单片机的静电衰减时间测试仪器的研制过程。并对其测试结果作了分析讨论。
关键词
材料
防
静电
性
静电衰减时间常数测试仪
原理
设计
衰减
时间
电荷
衰减
半衰期
测试
方法
Keywords
Decay time
Charge decay
Half-life time
Testing method
分类号
TB302 [一般工业技术—材料科学与工程]
TH879 [机械工程—精密仪器及机械]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
静电衰减时间常数测试仪的原理与设计
范立思
魏光辉
魏明
翟景升
《包装工程》
CAS
CSCD
北大核心
2001
5
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