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1
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基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的研究设计分析 |
贾应炜
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《现代电子技术》
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2014 |
5
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2
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一种通用数字集成电路自动测试系统的设计与实现 |
曹菲
缪栋
杨小冈
周生龙
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《计算机工程与设计》
CSCD
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2004 |
10
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3
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新一代大规模集成电路高温动态老化测试系统的研制 |
齐本胜
皇甫江涛
冉立新
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《电子测量与仪器学报》
CSCD
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2002 |
7
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4
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基于系统级芯片和射频集成电路的无线网络卫星平台设计与验证 |
董立珉
徐国栋
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《计算机集成制造系统》
EI
CSCD
北大核心
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2012 |
3
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5
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VXI数模混合信号集成电路测试系统 |
冯建科
张生文
郭士瑞
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《电子测量与仪器学报》
CSCD
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2005 |
6
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6
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大规模集成电路高温动态老化测试嵌入式图形发生系统的可编程ASIC实现 |
冉立新
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《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2003 |
3
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7
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M3000集成电路测试系统输出技术改造 |
熊华
刘风新
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《电子测量技术》
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2001 |
0 |
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8
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高效率集成电路测试芯片设计方法 |
胡龙跃
史峥
刘得金
邵康鹏
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《计算机工程与应用》
CSCD
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2013 |
2
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9
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专用集成电路芯片的测试仪 |
郭凤英
高德远
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《计算机工程与设计》
CSCD
北大核心
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1995 |
0 |
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10
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集成电路测试技术与应用 |
谷健
田延军
史文
张晓黎
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《中国惯性技术学报》
EI
CSCD
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2002 |
12
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11
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整机厂主导的集成电路产业创新系统研究——基于苹果公司A4芯片研发的案例分析 |
成卓
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《技术经济与管理研究》
CSSCI
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2014 |
0 |
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12
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我国集成电路测试技术现状及发展策略 |
俞建峰
陈翔
杨雪瑛
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《中国测试》
CAS
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2009 |
33
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集成电路测试技术的新进展 |
时万春
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《电子测量与仪器学报》
CSCD
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2007 |
18
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14
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数字专用集成电路成测系统设计 |
张瑜
祖静
裴东兴
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《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2006 |
1
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15
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模拟大规模集成电路测试及测试系统 |
王芬
周舟
李刚
孙玉珍
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《电子测量与仪器学报》
CSCD
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1991 |
0 |
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16
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集成电路在要害系统应用的相关技术 |
杨江
路荣先
李治
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2003 |
0 |
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17
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集成电路分析－识别系统的研究 |
林争辉
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《上海交通大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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1995 |
0 |
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18
|
满足汽车集成电路测试的新挑战 |
丁辉文
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2003 |
0 |
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19
|
改革传统课程教学强化EDA和集成电路设计 |
李东生
尹学忠
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《实验技术与管理》
CAS
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2005 |
19
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20
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雷达射频集成电路的发展及应用 |
李明
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《现代雷达》
CSCD
北大核心
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2012 |
12
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