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新型图形发生器的集成电路测试系统 |
张东
刘天增
张生文
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《集成电路应用》
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2003 |
0 |
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2
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集成电路测试系统高速数字通道校准装置架构设计 |
胡勇
黄俊杰
姚俊杰
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《舰船电子工程》
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2022 |
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3
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VXI数模混合集成电路测试系统 |
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《中国集成电路》
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2007 |
0 |
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德国SZ公司新一代M3000-IPC通用集成电路测试系统的最新发展 |
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《中国集成电路》
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2003 |
0 |
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5
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集成电路测试系统微小微电子参量校准技术研究 |
尹梦宾
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《通讯世界》
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2016 |
0 |
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6
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基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的研究设计分析 |
贾应炜
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《现代电子技术》
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2014 |
5
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7
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科利登推出新型测试系统 |
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《中国集成电路》
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2005 |
0 |
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8
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科利登推出Kalos 2 Hex系统作为存储器器件灵活,完整的测试解决方案 |
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《电子与电脑》
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2005 |
0 |
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9
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国际微电子计量与测试技术研讨会(CMMT2010中国武汉)征文通知(http://www.cmmt.org/cmmt2010) |
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《舰船电子工程》
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2010 |
0 |
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高端CPU/SoC测试迈上新台阶——恩浦科技与北京微电子技术研究所战略合作 |
刘新光
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《电子产品世界》
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2003 |
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吉时利(Keithley)与Novellus共同开发自动诊断测试 |
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《电子工业专用设备》
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2003 |
0 |
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