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1
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基于XGBoost的模拟集成电路测试参数优化方法 |
肖寅东
曾宇通
刘科
胡聪
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《电子测量与仪器学报》
CSCD
北大核心
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2023 |
5
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2
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VXI数模混合信号集成电路测试系统 |
冯建科
张生文
郭士瑞
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《电子测量与仪器学报》
CSCD
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2005 |
6
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3
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集成电路测试技术的新进展 |
时万春
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《电子测量与仪器学报》
CSCD
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2007 |
18
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4
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减少数字集成电路测试时间的扫描链配置 |
谢永乐
王玉文
陈光
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《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2005 |
1
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5
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基于LabVIEW的集成电路测试分析仪 |
王帅
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《现代电子技术》
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2011 |
8
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6
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集成电路测试原理和向量生成方法分析 |
宋尚升
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《现代电子技术》
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2014 |
14
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7
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集成电路测试系统延迟线性能分析 |
付大伟
王建林
董宗光
林雨
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《现代电子技术》
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2003 |
0 |
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8
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R&S先进IC测试方案,全面助力万物互连时代的IC设计应用——R&S公司成功举办2016射频集成电路测试技术研讨会 |
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《电子测量与仪器学报》
CSCD
北大核心
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2017 |
1
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9
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中国电子技术标准化研究所与惠瑞捷半导体科技合作测试验证高端集成电路“CESI-Verigy集成电路测试验证实验室”在北京正式成立 |
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《电子测量与仪器学报》
CSCD
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2007 |
0 |
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10
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2009集成电路测试技术研讨峰会在上海成功召开 |
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《电子测量与仪器学报》
CSCD
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2009 |
0 |
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11
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2009集成电路测试技术研讨峰会征文通知 |
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《电子测量与仪器学报》
CSCD
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2009 |
0 |
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12
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2009集成电路测试技术研讨峰会征文通知 |
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《电子测量与仪器学报》
CSCD
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2009 |
0 |
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13
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2009集成电路测试技术研讨峰会征文通知 |
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《电子测量与仪器学报》
CSCD
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2009 |
0 |
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14
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R&S先进IC测试方案,全面助力万物互连时代的IC设计应用——R&S公司成功举办2016射频集成电路测试技术研讨会 |
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《电子测量技术》
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2017 |
0 |
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15
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2009集成电路测试技术研讨峰会在上海成功召开 |
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《电子测量技术》
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2009 |
0 |
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16
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“首届集成电路测试技术论坛”在京隆重开幕 |
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《电子测量技术》
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2008 |
0 |
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17
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数字集成电路的混合模式内建自测试方法 |
谢永乐
孙秀斌
王玉文
胡兵
陈光
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《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2006 |
13
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18
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基于随机森林的集成电路适应性测试方法研究 |
易茂祥
宋晨钰
于金星
宋钛
鲁迎春
黄正峰
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《郑州大学学报（工学版）》
CAS
北大核心
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2021 |
5
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19
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基于虚拟仪器的集成电路自动测试系统设计 |
马宪民
任锋
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《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2006 |
4
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20
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基于普通测试仪的集成电路瞬态电流测量分析系统 |
李翔宇
孙义和
芦颖僖
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《电子测量与仪器学报》
CSCD
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2006 |
2
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