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题名处理器电路的隔离测试方法研究
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作者
路锋
冯辅周
闫存金
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机构
装甲兵工程学院机械工程系
装甲兵工程学院装甲兵装备技术研究所
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出处
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2011年第32期78-81,共4页
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文摘
含处理器(CPU)电路的测试和故障诊断一直是测试领域的一个难点。在研究过程中,提出并设计了一种电气隔离测试方法。该方法通过对CPU电路基本属性分析,采用对CPU复位脚进行操作使其一直处于某种特定状态,并设计一套外围电路对其进行数据收发,从而实现将CPU从电路中"隔离"出来进行测试。实验结果表明,该方法具有其独特的优势。
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关键词
自动测试
故障诊断
隔离测试
复杂电路
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Keywords
automatic test
malfunction diagnosis
isolation test
complex circuit
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分类号
TP277
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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题名基于特殊测试点隔离算法的测试节点选择
被引量：4
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作者
慕林芳
何玉珠
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机构
北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院
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出处
《电子测量技术》
2017年第6期101-104,共4页
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文摘
测试点的选择问题作为模拟电路故障诊断的基础性问题,如何找到数目最少的测试点以隔离电路的所有故障成为研究的重点,常用的测试点选择方法大多为故障字典法。研究发现,如果电路中一种特定的故障只能由一个特殊的测试点进行隔离,那么将这种特殊测试点选出可以大大简化故障字典,然后完成剩余有效测试点的选择和冗余测试点的移除,即可选出最优的测试点集合。这种方法称为特殊测试点隔离算法,通过对比实验,发现该算法很好的平衡了测试点选择中对时间和精度的要求,而且具有更高的效率。
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关键词
模拟电路
故障字典
特殊测试点隔离
测试点选择
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Keywords
analog circuits
fault dictionary
special test point separation
test point selection
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分类号
TN710
[电子电信—电路与系统]
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题名Kelvin四线连接电阻测试技术及应用
被引量：21
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作者
赵英伟
庞克俭
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机构
中国电子科技集团公司电子第十三所
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第11期43-45,50,共4页
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文摘
介绍了开尔文(Kelvin)四线连接方式测试电阻的原理,针对复杂电阻网络提出电阻隔离测 试技术。分析了采用全开尔文更精确测量极小电阻的方法,介绍了在特殊情况下使用分离开尔文连接测试 电阻的方法和用途。
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关键词
开尔文
电阻隔离测试
分离开尔文连接
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Keywords
Kelvin
guarded resistance measurement
split Kelvin connection
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分类号
TN304.07
[电子电信—物理电子学]
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