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基于混合随机过程模型的电连接器盐雾加速退化可靠性评估
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作者 李紫薇 锁斌 +1 位作者 姜会霞 范书义 《探测与控制学报》 北大核心 2025年第2期135-141,共7页
针对电连接器在盐雾环境中的退化过程受多种失效机理影响,常见的单一随机过程模型无法全面地评估其可靠性的问题,提出基于混合随机过程模型的电连接器盐雾加速退化试验评估方法。该方法以两种常见的单一随机过程(Wiener过程和Gamma过程... 针对电连接器在盐雾环境中的退化过程受多种失效机理影响,常见的单一随机过程模型无法全面地评估其可靠性的问题,提出基于混合随机过程模型的电连接器盐雾加速退化试验评估方法。该方法以两种常见的单一随机过程(Wiener过程和Gamma过程)模型为基础,通过赋予其权重而建立混合随机过程模型,结合统一定义的加速模型建立可靠性模型,基于退化数据对可靠性模型中的未知参数采用极大似然法进行估计;最后以YB3116F18-32型电连接器为研究对象,设计并实施电连接器盐雾恒定加速退化试验,对获取的数据利用所提模型进行统计分析,结果表明了方法的有效性。 展开更多
关键词 电连接器 混合随机过程模型 盐雾加速退化试验 可靠性评估
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一种基于UPF的轴承剩余寿命预测方法 被引量:23
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作者 文娟 高宏力 《振动与冲击》 EI CSCD 北大核心 2018年第24期208-213,243,共7页
剩余寿命预测能够确保系统的安全性、可用性与高效工作,并且能够降低维修费用,因而成为状态维修中的一个重要课题。基于模型的寿命预测方法主要包含两部分内容:退化模型构建和系统状态估计。粒子滤波算法(PF)是一种广泛用于系统状态估... 剩余寿命预测能够确保系统的安全性、可用性与高效工作,并且能够降低维修费用,因而成为状态维修中的一个重要课题。基于模型的寿命预测方法主要包含两部分内容:退化模型构建和系统状态估计。粒子滤波算法(PF)是一种广泛用于系统状态估计的方法,已经应用于轴承剩余寿命预测中,但PF方法存在粒子退化问题。提出一种基于无迹粒子滤波算法(UPF)的轴承剩余寿命预测方法。利用随机过程模型对轴承退化过程进行建模,再利用UPF算法对轴承的退化状态进行追踪,并更新模型参数。使用试验数据对提出方法进行验证,结果表明:与PF方法相比,该方法能在一定程度上降低粒子退化程度,进而更加准确地预测轴承剩余寿命。 展开更多
关键词 状态维修 无迹粒子滤波(UPF) 轴承 剩余寿命预测 随机过程模型
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电磁环境中电子器件的失效分析(英文) 被引量:9
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作者 张芳 蔡金燕 朱艳辉 《电子器件》 CAS 2009年第2期368-371,共4页
以现在应用较广泛的电子器件-MOS器件在电磁环境中的失效建模为例,针对MOS器件受到电磁脉冲和周期脉冲的冲击后,所表现出来的失效特征,得出它符合基于随机过程的退化失效模型所描述的结论。根据结论和两种电应力的特点,分别提出基于随... 以现在应用较广泛的电子器件-MOS器件在电磁环境中的失效建模为例,针对MOS器件受到电磁脉冲和周期脉冲的冲击后,所表现出来的失效特征,得出它符合基于随机过程的退化失效模型所描述的结论。根据结论和两种电应力的特点,分别提出基于随机过程的失效建模和动态应力-强度干涉建模。通过模型的建立和分析,初步制定出电子器件失效的试验方案。 展开更多
关键词 退化失效 栅氧化层软击穿 随机过程模型 动态应力-强度干涉模型 电磁脉冲应力
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考虑砰击作用时舰船甲板的可靠性分析
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作者 张婧 施兴华 +1 位作者 徐定海 王善 《兵工学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第12期1668-1673,共6页
针对甲板结构受压屈曲的失效模式,提出一种砰击载荷作用下舰船结构的可靠性分析方法。基于随机过程理论,计入砰击载荷和波浪载荷幅值的相关性,建立了舰船在砰击、波浪及静水载荷联合作用下甲板失效功能函数的随机过程模型。采用上穿率... 针对甲板结构受压屈曲的失效模式,提出一种砰击载荷作用下舰船结构的可靠性分析方法。基于随机过程理论,计入砰击载荷和波浪载荷幅值的相关性,建立了舰船在砰击、波浪及静水载荷联合作用下甲板失效功能函数的随机过程模型。采用上穿率及并联系统可靠性分析方法求解此随机过程的可靠性。通过算例分析了舰船结构的阻尼率、砰击率及载荷相关系数对结构可靠性的影响。结果表明,结构的阻尼率决定了砰击载荷对可靠性的影响程度。同时对甲板结构各主要失效模式的可靠性进行计算,发现加强筋侧倾失效是最危险的。该方法将为合理评估舰船结构的可靠性提供理论参考依据。 展开更多
关键词 概率论 可靠性分析 砰击载荷 随机过程模型 上穿率分析方法
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电磁脉冲应力下MOS器件退化失效建模
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作者 张芳 蔡金燕 朱艳辉 《电子质量》 2008年第10期42-44,共3页
通过分析电磁脉冲应力下,栅氧化层软击穿(MOS器件主要失效模式)的失效机理,得出结论:它符合基于随机过程的退化失效模型。根据此结论,提出利用该模型来描述电磁脉冲应力下MOS器件的退化失效过程,并给出相应的退化失效模型。同时针对退... 通过分析电磁脉冲应力下,栅氧化层软击穿(MOS器件主要失效模式)的失效机理,得出结论:它符合基于随机过程的退化失效模型。根据此结论,提出利用该模型来描述电磁脉冲应力下MOS器件的退化失效过程,并给出相应的退化失效模型。同时针对退化失效模型中的失效阈值问题,研究了随机失效阈值问题,分析了周期电磁脉冲应力下MOS器件的失效阈值问题,给出动态应力-强度干涉(SS)I模型。这些为更合理描述和分析MOS器件的退化失效问题提供了新的途径。 展开更多
关键词 栅氧化层软击穿 随机过程模型 动态应力-强度干涉模型 退化失效 电磁脉冲应
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