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覆盖率驱动的随机测试生成技术综述被引量：22: 1; 作者沈海华卫文丽陈云霁《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2009年第4期419-431,441,共14页; 随机测试生成技术是当今大规模集成电路仿真验证流程中的一项重要支撑技术.覆盖率驱动的随机测试生成方法是目前该领域研究的热点之一,其目标是通过覆盖率指导测试向量生成,减少重复测试向量,加速验证的收敛过程,提高验证的自动化程度... 展开更多; 关键词验证 VLSI 随机测试生成覆盖率驱动的测试生成; 在线阅读下载PDF 职称材料

数字系统单加权集下随机测试生成方法被引量：2: 2; 作者谢永乐陈光禑《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2002年第5期471-474,共4页; 为在不引入额外的硬件开销下以较短的测试序列获得较高的故障覆盖率 ,提出一种基于细胞自动机 (CA )的数字集成电路加权随机测试方法 .该方法利用可测性测度建立反映故障侦查代价的可测性代价函数 ,对此函数的寻优得到被测电路主输入处... 展开更多; 关键词故障诊断细胞自动机线性反馈移位寄存器数字集成电路数字系统单加权集随机测试生成方法; 在线阅读下载PDF 职称材料

数字电路多加权集随机测试生成方法被引量：2: 3; 作者谢永乐陈光■ 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2002年第6期571-573,共3页; 提出一种基于确定性完备测试集的数字集成电路多加权集随机测试生成方法 .通过引入搜索与迭代算法 ,将完备测试集分成若干测试子集 ,每一子集对应一个权集 ,即产生该子集中测试矢量的被测电路各主输入端取‘1’值的概率组合 .该方法与文... 展开更多; 关键词数字电路多加权集随机测试生成方法超大规模集成电路; 在线阅读下载PDF 职称材料

基于遗传算法的全芯片级覆盖率驱动随机验证技术被引量：5: 4; 作者沈海华王朋宇 +1 位作者卫文丽郭崎《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2009年第10期1612-1625,共14页; 随机测试生成技术是当今大规模集成电路仿真验证流程中的重要支撑技术.覆盖率驱动的随机测试生成方法是目前该领域研究的热点.遗传算法具有部分优化问题的黑盒特性,不需要了解问题的太多先验知识,适合处理黑盒优化问题.因此,将遗传算法... 展开更多; 关键词验证大规模集成电路随机测试生成覆盖率驱动的测试生成遗传算法; 在线阅读下载PDF 职称材料

基于验证库的微处理器指令集验证方法被引量：1: 5; 作者龚令侃王玉艳章建雄《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2009年第3期86-88,共3页; 指令集作为微处理器软件和硬件的分界线在计算机体系结构中占有重要地位。测试程序自动生成(RTPG)是微处理器指令集验证的主要方法之一。该文比较目前主流的RTPG技术和验证策略,提出基于验证库的随机测试程序生成工具。使用通用脚本语... 展开更多; 关键词微处理器指令集验证随机测试程序生成验证库; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名覆盖率驱动的随机测试生成技术综述被引量：22: 1; 作者沈海华卫文丽陈云霁; 机构中国科学院计算技术研究所微处理器技术研究中心中国科学院研究生院; 出处《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2009年第4期419-431,441,共14页; 基金国家“八六三”高技术研究发展计划(2008AA110901,2007AA01Z112) 国家自然科学基金(60603049) 北京市自然科学基金(4072024); 文摘随机测试生成技术是当今大规模集成电路仿真验证流程中的一项重要支撑技术.覆盖率驱动的随机测试生成方法是目前该领域研究的热点之一,其目标是通过覆盖率指导测试向量生成,减少重复测试向量,加速验证的收敛过程,提高验证的自动化程度和效率.文中全面综述了覆盖率驱动的随机测试生成技术的发展历程、研究现状和技术分类,并结合具体实例对各种方法及其面临的主要问题进行了讨论、评价和总结.; 关键词验证 VLSI 随机测试生成覆盖率驱动的测试生成; Keywords verification VLSI random test generation coverage directed test generation; 分类号 TP302 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名数字系统单加权集下随机测试生成方法被引量：2: 2; 作者谢永乐陈光禑; 机构电子科技大学CAT研究室; 出处《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2002年第5期471-474,共4页; 文摘为在不引入额外的硬件开销下以较短的测试序列获得较高的故障覆盖率 ,提出一种基于细胞自动机 (CA )的数字集成电路加权随机测试方法 .该方法利用可测性测度建立反映故障侦查代价的可测性代价函数 ,对此函数的寻优得到被测电路主输入处的权值 ,再由一维混合型 CA实现了该权值下的随机序列 .对标准电路的实验验证了该方法是一有效的、且便于 BIST应用的测试生成算法 .; 关键词故障诊断细胞自动机线性反馈移位寄存器数字集成电路数字系统单加权集随机测试生成方法; Keywords fault diagnosis, build in self test, cellular automata, linear feedback shift register(LFSR); 分类号 TN431.2 [电子电信—微电子学与固体电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名数字电路多加权集随机测试生成方法被引量：2: 3; 作者谢永乐陈光■; 机构电子科技大学自动化系; 出处《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2002年第6期571-573,共3页; 文摘提出一种基于确定性完备测试集的数字集成电路多加权集随机测试生成方法 .通过引入搜索与迭代算法 ,将完备测试集分成若干测试子集 ,每一子集对应一个权集 ,即产生该子集中测试矢量的被测电路各主输入端取‘1’值的概率组合 .该方法与文献 [2 - 3]的结果相比 ,在测试序列长度或硬件开销上获得了改善。; 关键词数字电路多加权集随机测试生成方法超大规模集成电路; Keywords fault diagnosis, test pattern generator, weighted random test, multiple weight set, VLSI; 分类号 TN79 [电子电信—电路与系统]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名基于遗传算法的全芯片级覆盖率驱动随机验证技术被引量：5: 4; 作者沈海华王朋宇卫文丽郭崎; 机构中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院计算技术研究所微处理器技术研究中心中国科学院研究生院; 出处《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2009年第10期1612-1625,共14页; 基金国家"九七三"重点基础研究发展计划基金项目(2005CB321600) 国家"八六三"高技术研究发展计划基金项目(2008AA110901 +3 种基金 2007AA01Z112) 国家自然科学基金项目(60603049 60803029) 北京市自然科学基金项目(4072024)~~; 文摘随机测试生成技术是当今大规模集成电路仿真验证流程中的重要支撑技术.覆盖率驱动的随机测试生成方法是目前该领域研究的热点.遗传算法具有部分优化问题的黑盒特性,不需要了解问题的太多先验知识,适合处理黑盒优化问题.因此,将遗传算法应用在覆盖率反馈驱动随机测试生成时,不需要复杂的领域先验知识,节约了大量的专家时间,提高了验证的自动化程度.分析了各种基于遗传算法的覆盖率驱动的随机测试生成方法,并在此基础上设计和实现了基于遗传算法的全芯片级覆盖率驱动随机验证平台.该平台被实际应用在龙芯处理器的验证中,实验结果表明,平台有效提高了验证效率.; 关键词验证大规模集成电路随机测试生成覆盖率驱动的测试生成遗传算法; Keywords verification VI.SI random test generation coverage directed test generation genetic algorithm; 分类号 TP302 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名基于验证库的微处理器指令集验证方法被引量：1: 5; 作者龚令侃王玉艳章建雄; 机构华东计算技术研究所; 出处《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2009年第3期86-88,共3页; 文摘指令集作为微处理器软件和硬件的分界线在计算机体系结构中占有重要地位。测试程序自动生成(RTPG)是微处理器指令集验证的主要方法之一。该文比较目前主流的RTPG技术和验证策略,提出基于验证库的随机测试程序生成工具。使用通用脚本语言开发验证库和测试程序模板,针对不同验证阶段生成高质量的测试程序。测试结果表明,该方法实现简单,能达到较好的验证效果。; 关键词微处理器指令集验证随机测试程序生成验证库; Keywords microprocessor instruction set verification Random Test Program Generation（RTPG） library-based verification; 分类号 TP311 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]; 在线阅读下载PDF 职称材料

	题名	作者	出处	发文年	被引量	操作
1	覆盖率驱动的随机测试生成技术综述	沈海华卫文丽陈云霁	《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心	2009	22	在线阅读下载PDF 职称材料
2	数字系统单加权集下随机测试生成方法	谢永乐陈光禑	《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心	2002	2	在线阅读下载PDF 职称材料
3	数字电路多加权集随机测试生成方法	谢永乐陈光■	《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心	2002	2	在线阅读下载PDF 职称材料
4	基于遗传算法的全芯片级覆盖率驱动随机验证技术	沈海华王朋宇卫文丽郭崎	《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心	2009	5	在线阅读下载PDF 职称材料
5	基于验证库的微处理器指令集验证方法	龚令侃王玉艳章建雄	《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心	2009	1	在线阅读下载PDF 职称材料