-
题名聚乙烯载流子迁移率与空间电荷包形成机理
被引量：10
- 1
-
-
作者
田冀焕
周远翔
-
机构
清华大学电机工程与应用电子技术系电力系统及发电设备控制和仿真国家重点实验室
-
出处
《高电压技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第12期2882-2888,共7页
-
基金
国家教育部博士点基金(200800030040)~~
-
文摘
空间电荷包现象是电介质绝缘材料即将发生击穿破坏的重要标志。现有理论分析与仿真结果表明,电介质中载流子迁移率与场强的非线性关系是电荷包形成的重要条件。然而,此非线性关系的物理机制尚不清楚。为此,针对迁移率与场强的非线性关系展开研究,旨在解释聚乙烯材料中空间电荷包的形成机理。基于聚乙烯材料的定域态密度分布函数,利用以跳跃电导方式运动的电子性载流子迁移率公式,计算得到并分析了不同场强、最深陷阱中心能级与陷阱浓度等条件下的迁移率-载流子浓度关系。在迁移率的计算中,采用数值方法计算了Fermi能级,相对于解析近似方法具有更高的精度。迁移率的计算结果印证了陷阱填充效应的存在:随着陷阱不断被填充,新注入的载流子将受陷于较浅的陷阱,从而导致载流子的平均迁移率有较大提高。基于这种陷阱对载流子迁移率的调制作用,通过定性分析得出结论:电荷包运动方向后方的载流子对陷阱的填充效应可以使电荷包前后沿载流子的速度基本一致,从而为空间电荷包的形成和维持提供了一种可能的解释。
-
关键词
聚乙烯
迁移率
定域态密度(DOLS)
费米能级
空间电荷包
陷阱填充效应
-
Keywords
polyethylene
mobility
density of localized states（DOLS）
Fermi level
space charge packet
trap-filling effect
-
分类号
TM215
[一般工业技术—材料科学与工程]
TM855
[电气工程—高电压与绝缘技术]
-
