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基于第一性原理计算的ZrO_2材料的掺杂阻变特性 被引量:2
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作者 周星 王建军 +1 位作者 高珊 陈军宁 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2013年第10期760-764,共5页
阻变式随机存储器(RRAM)是目前新型存储器领域的研究热点。基于ZrO2材料,选取Al和Ag作为杂质元素。采用第一性原理方法计算了掺杂条件下ZrO2中氧空位的形成能、氧空位之间的作用能等重要参量。Al(富余)掺杂下,氧空位之间的相互作用能成... 阻变式随机存储器(RRAM)是目前新型存储器领域的研究热点。基于ZrO2材料,选取Al和Ag作为杂质元素。采用第一性原理方法计算了掺杂条件下ZrO2中氧空位的形成能、氧空位之间的作用能等重要参量。Al(富余)掺杂下,氧空位之间的相互作用能成负值,相互吸引抱团形成导电细丝,阻变特性明显改善,氧空位主导细丝形成。这与相关的实验结果是一致的。Ag掺杂下,Ag的金属性强,氧空位之间相互作用能全为正值,相互排斥。通过模拟观察,Ag主导了细丝形成,并改善了ZrO2材料的阻变特性。 展开更多
关键词 随机存储器(RRAM) 掺杂 导电细丝 相互作用能 氧空位
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基于RRAM的运用MIG逻辑设计的加法器电路 被引量:3
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作者 刘文楷 范冬宇 +1 位作者 戴澜 张锋 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2017年第12期50-54,共5页
本文采用SMIC 0.18μm CMOS工艺,设计了一种基于阻变随机存储器(RRAM)的加法器电路.区别于传统的蕴含逻辑(IMP)型加法器,本设计选取新型的多数表决器逻辑(Majority-Inverter Graph,MIG)实现加法运算.文中设计并验证了基于MIG逻辑的一位... 本文采用SMIC 0.18μm CMOS工艺,设计了一种基于阻变随机存储器(RRAM)的加法器电路.区别于传统的蕴含逻辑(IMP)型加法器,本设计选取新型的多数表决器逻辑(Majority-Inverter Graph,MIG)实现加法运算.文中设计并验证了基于MIG逻辑的一位全加器的全部运算,证明了新逻辑在存储器计算方面的可行性.与传统RRAM一位全加器相比较,本设计的一位全加器因为采用新的逻辑方法使得RRAM多个单元可以并行进行数据操作,从而减少了运算步骤,及原有冗长运算引起的误差,有效提高了运算速度,为存储器内部计算提供了新的思路. 展开更多
关键词 阻变随机存储器 多数表决器逻辑 存储器计算 加法器
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1T1R结构RRAM的故障可测性设计 被引量:1
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作者 陈传兵 许晓欣 +1 位作者 李晓燕 李颖弢 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2018年第5期388-393,400,共7页
阻变随机存储器(RRAM)中存在的故障严重影响产品的可靠性和良率。采用精确高效的测试方法能有效缩短工艺优化周期,降低测试成本。基于SMIC 28 nm工艺平台,完成了1T1R结构的1 Mbit RRAM模块的流片。详细分析了测试中的故障响应情况,并... 阻变随机存储器(RRAM)中存在的故障严重影响产品的可靠性和良率。采用精确高效的测试方法能有效缩短工艺优化周期,降低测试成本。基于SMIC 28 nm工艺平台,完成了1T1R结构的1 Mbit RRAM模块的流片。详细分析了测试中的故障响应情况,并定义了一种故障识别表达式。在March算法的基础上,提出针对RRAM故障的有效测试算法,同时设计了可以定位故障的内建自测试(BIST)电路。仿真结果表明,该测试方案具有占用引脚较少、测试周期较短、故障定位准确、故障覆盖率高的优势。 展开更多
关键词 1T1R结构 阻变随机存储器(RRAM) 内建自测试(BIST) 故障类型 测试算法 故障定位
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一种基于斯坦福RRAM模型的参数提取方法
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作者 孙海燕 张硕 +1 位作者 张晓波 戴澜 《半导体技术》 CAS 北大核心 2022年第8期670-675,共6页
阻变随机存取存储器(RRAM)是一种新型非易失性存储器件,比主流的闪存(Flash)器件具有更快的读/写速度、更低的编程电压和功耗。然而由于工艺不成熟等因素,RRAM准确的器件模型需要在已有的斯坦福物理模型基础上,对多达6个曲线拟合参数反... 阻变随机存取存储器(RRAM)是一种新型非易失性存储器件,比主流的闪存(Flash)器件具有更快的读/写速度、更低的编程电压和功耗。然而由于工艺不成熟等因素,RRAM准确的器件模型需要在已有的斯坦福物理模型基础上,对多达6个曲线拟合参数反复进行调整,具有一定的建模难度。提出了一种简并参数的建模方法,通过器件实测数据计算出其中4个曲线拟合参数I_(0)、g_(0)、γ_(0)、β。该方法大大降低了将物理模型适配为实际模型的建模难度,且由于基于实测数据,该建模方法理论上对不同工艺具有适配性。最后在不同工艺条件下制作了基于HfO_(x)材料的RRAM器件,并验证了该方法的有效性、先进性和准确性。 展开更多
关键词 随机存取存储器(RRAM) 非易失性存储器 器件模型 HfOx材料 导电细丝理论
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