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基于XP Embedded的嵌入式数字测厚仪设计与实现 被引量:3
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作者 秦清 李强 《计算机工程与设计》 CSCD 北大核心 2006年第1期149-151,168,共4页
如何提高开发效率、降低成本已经成为当前嵌入式系统开发方法研究中的热点。针对嵌入式数字测厚仪的研制要求,设计了基于普通PC机硬件平台、采用WindowsXPEmbedded进行嵌入式软件开发的技术路线。根据阳极溶解库仑法的原理,用PC机和自... 如何提高开发效率、降低成本已经成为当前嵌入式系统开发方法研究中的热点。针对嵌入式数字测厚仪的研制要求,设计了基于普通PC机硬件平台、采用WindowsXPEmbedded进行嵌入式软件开发的技术路线。根据阳极溶解库仑法的原理,用PC机和自研的测厚采集卡实现了金属镀层厚度的测量、分析与数据存贮、打印等功能。实际开发和应用表明,这是一种高效、低成本的研发方法,此方法适用于类似的数字化仪器的开发研制。 展开更多
关键词 WINDOWS XP EMBEDDED 嵌入式系统 运行时映像 镀层测厚 阳极溶解库仑法
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