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小单元漂移室模拟老化实验中老化率与放射源强度的相关
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作者 沈洪涛 陈昌 +8 位作者 陈元柏 朱启明 金艳 刘荣光 马骁妍 王岚 阮向东 王祥高 徐美杭 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2007年第2期359-362,375,共5页
在小单元漂移室多次模拟老化实验中,观察到测量所得的老化率与辐照放射源强度的相关,讨论了产生此种相关的可能原因。
关键词 小单元漂移室 放射源强度 老化率 阳极丝电流 光电峰位
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