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DWT-iPLS在烃源岩漫反射光谱数据处理中的应用
被引量：
2
1
作者
宋宁
徐晓轩
+2 位作者
武中臣
张存洲
王斌
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第8期1846-1850,共5页
红外漫反射光谱技术被广泛地应用于粉末样品的定性、定量测量中。但是由于粉末样品自身的特点,颗粒度、密度、表面粗糙程度等几何参数的影响,使得漫反射光谱数据的信噪比很低、背景干扰很大。因此需要一种有效的方法对漫反射光谱数据进...
红外漫反射光谱技术被广泛地应用于粉末样品的定性、定量测量中。但是由于粉末样品自身的特点,颗粒度、密度、表面粗糙程度等几何参数的影响,使得漫反射光谱数据的信噪比很低、背景干扰很大。因此需要一种有效的方法对漫反射光谱数据进行预处理来提高信噪比,消除背景干扰。文章采用了离散小波变换对红外漫反射光谱进行了预处理,有效地消除了光谱中的高频噪声和低频背景的干扰,并结合iPLS(间隔偏最小二乘回归)方法进行线性回归分析,建立了用于复杂样品体系组分分析的建模方法(DWT-iPLS)。并以烃源岩的红外漫反射光谱为例,将DWT-iPLS应用于数据的预处理及建立数学模型,其结果与未用DWT预处理的方法相比较,准确度有明显的提高,证明了此方法是一种快速有效的定量分析的建模方法。
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关键词
漫反射
相关系数
离散小波变换
间隔偏最小二乘回归
均方根误差
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职称材料
题名
DWT-iPLS在烃源岩漫反射光谱数据处理中的应用
被引量：
2
1
作者
宋宁
徐晓轩
武中臣
张存洲
王斌
机构
南开大学泰达应用物理学院光子学中心
山东大学威海分校空间科学与应用物理系
出处
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第8期1846-1850,共5页
基金
国家教育部“振兴计划”项目(A01504)资助
文摘
红外漫反射光谱技术被广泛地应用于粉末样品的定性、定量测量中。但是由于粉末样品自身的特点,颗粒度、密度、表面粗糙程度等几何参数的影响,使得漫反射光谱数据的信噪比很低、背景干扰很大。因此需要一种有效的方法对漫反射光谱数据进行预处理来提高信噪比,消除背景干扰。文章采用了离散小波变换对红外漫反射光谱进行了预处理,有效地消除了光谱中的高频噪声和低频背景的干扰,并结合iPLS(间隔偏最小二乘回归)方法进行线性回归分析,建立了用于复杂样品体系组分分析的建模方法(DWT-iPLS)。并以烃源岩的红外漫反射光谱为例,将DWT-iPLS应用于数据的预处理及建立数学模型,其结果与未用DWT预处理的方法相比较,准确度有明显的提高,证明了此方法是一种快速有效的定量分析的建模方法。
关键词
漫反射
相关系数
离散小波变换
间隔偏最小二乘回归
均方根误差
Keywords
Diffuse reflectance
Correlation
DWT
iPLS
RMSE
分类号
O657.3 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
DWT-iPLS在烃源岩漫反射光谱数据处理中的应用
宋宁
徐晓轩
武中臣
张存洲
王斌
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008
2
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参考文献
引证文献
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