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几十纳秒的荧光寿命的测定
1
作者
余仲秋
沈书泊
梁二军
《量子电子学报》
CAS
CSCD
1992年第1期55-56,共2页
利用光学多道分析仪(OMAⅢ)的选通功能,配合使 1302型快脉冲发生器,可以测 出大于100ns的荧光寿命,若荧光寿命可以与探测器门脉冲宽度(最小值为5ns)相比拟,测得荧光寿命与实际荧光寿命有很大出入,而且探测器的“延展效应”展宽了有效门...
利用光学多道分析仪(OMAⅢ)的选通功能,配合使 1302型快脉冲发生器,可以测 出大于100ns的荧光寿命,若荧光寿命可以与探测器门脉冲宽度(最小值为5ns)相比拟,测得荧光寿命与实际荧光寿命有很大出入,而且探测器的“延展效应”展宽了有效门脉冲宽度。本文提出一种方法解决了此问题。 利用OMAⅢ的内插板1303型脉冲发生器的递增延时功能,可以探测到光脉冲随时间变化的三维光谱图(图略),光谱的峰值包络线与时间亡的函数关系为F(t)。
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关键词
荧光寿命
门脉冲宽度
探测器
脉冲
发生器
半
宽度
时间变化
包络线
峰值包络
光
脉冲
最小值
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题名
几十纳秒的荧光寿命的测定
1
作者
余仲秋
沈书泊
梁二军
机构
河南省基础应用研究所
郑州大学分析测试中心
出处
《量子电子学报》
CAS
CSCD
1992年第1期55-56,共2页
文摘
利用光学多道分析仪(OMAⅢ)的选通功能,配合使 1302型快脉冲发生器,可以测 出大于100ns的荧光寿命,若荧光寿命可以与探测器门脉冲宽度(最小值为5ns)相比拟,测得荧光寿命与实际荧光寿命有很大出入,而且探测器的“延展效应”展宽了有效门脉冲宽度。本文提出一种方法解决了此问题。 利用OMAⅢ的内插板1303型脉冲发生器的递增延时功能,可以探测到光脉冲随时间变化的三维光谱图(图略),光谱的峰值包络线与时间亡的函数关系为F(t)。
关键词
荧光寿命
门脉冲宽度
探测器
脉冲
发生器
半
宽度
时间变化
包络线
峰值包络
光
脉冲
最小值
分类号
TN201-55 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
几十纳秒的荧光寿命的测定
余仲秋
沈书泊
梁二军
《量子电子学报》
CAS
CSCD
1992
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