期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
几十纳秒的荧光寿命的测定
1
作者 余仲秋 沈书泊 梁二军 《量子电子学报》 CAS CSCD 1992年第1期55-56,共2页
利用光学多道分析仪(OMAⅢ)的选通功能,配合使 1302型快脉冲发生器,可以测 出大于100ns的荧光寿命,若荧光寿命可以与探测器门脉冲宽度(最小值为5ns)相比拟,测得荧光寿命与实际荧光寿命有很大出入,而且探测器的“延展效应”展宽了有效门... 利用光学多道分析仪(OMAⅢ)的选通功能,配合使 1302型快脉冲发生器,可以测 出大于100ns的荧光寿命,若荧光寿命可以与探测器门脉冲宽度(最小值为5ns)相比拟,测得荧光寿命与实际荧光寿命有很大出入,而且探测器的“延展效应”展宽了有效门脉冲宽度。本文提出一种方法解决了此问题。 利用OMAⅢ的内插板1303型脉冲发生器的递增延时功能,可以探测到光脉冲随时间变化的三维光谱图(图略),光谱的峰值包络线与时间亡的函数关系为F(t)。 展开更多
关键词 荧光寿命 门脉冲宽度 探测器 脉冲发生器 宽度 时间变化 包络线 峰值包络 脉冲 最小值
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部