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电子元器件的贮存可靠性及评价技术
被引量：
3
1
作者
杨丹
恩云飞
黄云
《电子产品可靠性与环境试验》
2005年第B12期71-74,共4页
贮存可靠性是元器件可靠性研究的重要方面。阐述了国内外元器件的贮存可靠性研究现状,从应用性角度出发,对现场贮存、长期自然贮存试验、极限应力、加速贮存寿命试验等贮存可靠性评价技术进行了对比分析。
关键词
贮存可靠性
长期自然贮存
极限应力试验
加速贮存寿命试验
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职称材料
题名
电子元器件的贮存可靠性及评价技术
被引量：
3
1
作者
杨丹
恩云飞
黄云
机构
信息产业部电子第五研究所可靠性研究分析中心
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2005年第B12期71-74,共4页
文摘
贮存可靠性是元器件可靠性研究的重要方面。阐述了国内外元器件的贮存可靠性研究现状,从应用性角度出发,对现场贮存、长期自然贮存试验、极限应力、加速贮存寿命试验等贮存可靠性评价技术进行了对比分析。
关键词
贮存可靠性
长期自然贮存
极限应力试验
加速贮存寿命试验
分类号
TB114.3 [理学—概率论与数理统计]
TB24 [一般工业技术—工程设计测绘]
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作者
出处
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1
电子元器件的贮存可靠性及评价技术
杨丹
恩云飞
黄云
《电子产品可靠性与环境试验》
2005
3
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