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一种锂离子电池管理芯片的失效定位
1
作者
廉鹏飞
张辉
+5 位作者
祝伟明
莫艳图
蒋坤
孔泽斌
楼建设
王昆黍
《半导体技术》
CAS
北大核心
2019年第12期961-966,共6页
针对一种锂离子电池管理芯片的失效定位进行了研究。某单机在测试时由于锂离子电池管理芯片失效,导致所采集的电压数据间歇异常跳变。经一致性分析,发现失效锂离子电池管理芯片老炼后的转换功耗和回读功耗与同批次芯片相比异常增加。通...
针对一种锂离子电池管理芯片的失效定位进行了研究。某单机在测试时由于锂离子电池管理芯片失效,导致所采集的电压数据间歇异常跳变。经一致性分析,发现失效锂离子电池管理芯片老炼后的转换功耗和回读功耗与同批次芯片相比异常增加。通过微光分析和版图对比,发现失效芯片中菊花链电流比较器的NMOS管存在漏电缺陷。对比较器工作原理进行进一步分析,并分析了SCLK接口和CNVST接口的翻转阈值与功耗变化量之间的关系,确认了芯片失效是由于NMOS管漏电所导致,且通过电老炼可以暴露NMOS管的漏电缺陷。最后,针对器件功耗变化量与内部NMOS管漏电之间的关系进行了仿真和计算,定量验证了锂离子电池管理芯片老炼后功耗的增加是由于比较器NMOS管漏电引起的。
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关键词
锂离子电池管理芯片
失效
比较器
功耗
翻转阈值
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职称材料
题名
一种锂离子电池管理芯片的失效定位
1
作者
廉鹏飞
张辉
祝伟明
莫艳图
蒋坤
孔泽斌
楼建设
王昆黍
机构
上海航天技术研究院第八〇八研究所
北京微电子技术研究院
上海航天技术研究院第八一一研究所
出处
《半导体技术》
CAS
北大核心
2019年第12期961-966,共6页
基金
预先研究项目(050401)
文摘
针对一种锂离子电池管理芯片的失效定位进行了研究。某单机在测试时由于锂离子电池管理芯片失效,导致所采集的电压数据间歇异常跳变。经一致性分析,发现失效锂离子电池管理芯片老炼后的转换功耗和回读功耗与同批次芯片相比异常增加。通过微光分析和版图对比,发现失效芯片中菊花链电流比较器的NMOS管存在漏电缺陷。对比较器工作原理进行进一步分析,并分析了SCLK接口和CNVST接口的翻转阈值与功耗变化量之间的关系,确认了芯片失效是由于NMOS管漏电所导致,且通过电老炼可以暴露NMOS管的漏电缺陷。最后,针对器件功耗变化量与内部NMOS管漏电之间的关系进行了仿真和计算,定量验证了锂离子电池管理芯片老炼后功耗的增加是由于比较器NMOS管漏电引起的。
关键词
锂离子电池管理芯片
失效
比较器
功耗
翻转阈值
Keywords
lithium-ion battery management chip
failure
comparator
power consumption
reversal threshold
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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作者
出处
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被引量
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1
一种锂离子电池管理芯片的失效定位
廉鹏飞
张辉
祝伟明
莫艳图
蒋坤
孔泽斌
楼建设
王昆黍
《半导体技术》
CAS
北大核心
2019
0
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