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空间单粒子锁定及防护技术研究被引量：12: 1; 作者杨世宇曹洲薛玉雄《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第5期945-948,共4页; 本文介绍了单粒子锁定现象的触发原理,探讨了针对典型CMOS器件SEL现象的主要特征和测试方法,并开展了几种CMOS器件的单粒子锁定试验研究。在模拟试验的基础上,研制成功抗单粒子锁定防护电路,能够自动探测和迅速解除单粒子锁定现象。; 关键词 CMOS器件单粒子锁定锁定防护技术; 在线阅读下载PDF 职称材料

空间单粒子锁定及防护技术研究被引量：9: 2; 作者杨世宇曹洲薛玉雄《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2007年第3期567-570,共4页; 介绍了单粒子锁定现象的触发原理,探讨了针对典型CMOS器件SEL现象的主要特征和测试方法,并开展了几种CMOS器件的单粒子锁定试验研究。在模拟试验的基础上,研制成功抗单粒子锁定防护电路,能够自动探测和迅速解除单粒子锁定现象。; 关键词 CMOS器件单粒子锁定锁定防护技术; 在线阅读下载PDF 职称材料

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