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溅射气压对铟锡锌氧化物薄膜晶体管性能的影响
被引量:
5
1
作者
刘媛媛
赵继凤
+3 位作者
李延辉
宋淑梅
辛艳青
杨田林
《真空科学与技术学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016年第4期391-396,共6页
利用射频磁控溅射技术,在不同溅射气压下制备了铟锡锌氧化物薄膜晶体管(ITZO TFT),分析了ITZO TFT电学性能随气压的变化规律。研究结果表明:非晶ITZO TFT的工作模式均为耗尽型;随着气压的增大,亚阈值摆幅及阈值电压先减小后增大、场效...
利用射频磁控溅射技术,在不同溅射气压下制备了铟锡锌氧化物薄膜晶体管(ITZO TFT),分析了ITZO TFT电学性能随气压的变化规律。研究结果表明:非晶ITZO TFT的工作模式均为耗尽型;随着气压的增大,亚阈值摆幅及阈值电压先减小后增大、场效应迁移率逐渐减小,这是由载流子浓度和界面缺陷密度两方面因素共同决定的。溅射气压为0.4 Pa时,ITZO TFT综合性能最好,场效应迁移率高达24.32 cm^2/V·s,亚阈值摆幅为1.10 V/decade,电流开关比达到10~6。此外,ITZO有源层在可见光范围内的平均透过率超过80%,光学带隙值在3.2~3.4 eV之间,随气压的升高先减小后增大。
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关键词
溅射气压
铟锡锌氧化物薄膜
晶体管
磁控溅射
光学带隙
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职称材料
射频功率对ITZO薄膜结构、形貌及光电特性的影响
被引量:
1
2
作者
童杨
王昆仑
+3 位作者
刘媛媛
李延辉
宋淑梅
杨田林
《人工晶体学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015年第9期2338-2342,2349,共6页
在室温下采用射频磁控溅射方法在玻璃衬底上制备了200 nm厚的铟锡锌氧化物(ITZO)薄膜,研究了不同功率下薄膜结构、形貌、光学和电学性能的变化规律。结果表明,ITZO薄膜为非晶薄膜并且有着良好的光电特性,其平均光学透过率超过了84%,载...
在室温下采用射频磁控溅射方法在玻璃衬底上制备了200 nm厚的铟锡锌氧化物(ITZO)薄膜,研究了不同功率下薄膜结构、形貌、光学和电学性能的变化规律。结果表明,ITZO薄膜为非晶薄膜并且有着良好的光电特性,其平均光学透过率超过了84%,载流子霍尔迁移率高达24 cm2·V-1·s-1。随着射频功率从50 W上升到100 W,薄膜的光学带隙从3.68 e V逐渐增加到3.76 e V。研究发现,薄膜的电学性能强烈依赖于射频功率。随着功率的增加,薄膜的电学性能呈现出先变好后变差的变化规律。当射频功率为80 W时,ITZO薄膜拥有最佳的电学性能,其电阻率为3.80×10-4Ω·cm,载流子浓度为6.45×1020cm-3,霍尔迁移率为24.14 cm2·V-1·s-1。
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关键词
铟锡锌氧化物薄膜
光学带隙
光电特性
射频功率
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职称材料
题名
溅射气压对铟锡锌氧化物薄膜晶体管性能的影响
被引量:
5
1
作者
刘媛媛
赵继凤
李延辉
宋淑梅
辛艳青
杨田林
机构
山东大学空间科学与物理学院
出处
《真空科学与技术学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016年第4期391-396,共6页
基金
山东大学(威海)研究生科研创新基金项目(yjs13029)
山东省科技攻关课题(2014GGX102022)
文摘
利用射频磁控溅射技术,在不同溅射气压下制备了铟锡锌氧化物薄膜晶体管(ITZO TFT),分析了ITZO TFT电学性能随气压的变化规律。研究结果表明:非晶ITZO TFT的工作模式均为耗尽型;随着气压的增大,亚阈值摆幅及阈值电压先减小后增大、场效应迁移率逐渐减小,这是由载流子浓度和界面缺陷密度两方面因素共同决定的。溅射气压为0.4 Pa时,ITZO TFT综合性能最好,场效应迁移率高达24.32 cm^2/V·s,亚阈值摆幅为1.10 V/decade,电流开关比达到10~6。此外,ITZO有源层在可见光范围内的平均透过率超过80%,光学带隙值在3.2~3.4 eV之间,随气压的升高先减小后增大。
关键词
溅射气压
铟锡锌氧化物薄膜
晶体管
磁控溅射
光学带隙
Keywords
Sputtering pressures
ITZO TFT
Magnetron sputtering
Optical band gap
分类号
TN304.21 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
射频功率对ITZO薄膜结构、形貌及光电特性的影响
被引量:
1
2
作者
童杨
王昆仑
刘媛媛
李延辉
宋淑梅
杨田林
机构
山东大学(威海)空间科学与物理学院
出处
《人工晶体学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015年第9期2338-2342,2349,共6页
基金
山东省科技发展计划(2014GGX102022)
山东大学研究生科技创新基金(yjs12026)
文摘
在室温下采用射频磁控溅射方法在玻璃衬底上制备了200 nm厚的铟锡锌氧化物(ITZO)薄膜,研究了不同功率下薄膜结构、形貌、光学和电学性能的变化规律。结果表明,ITZO薄膜为非晶薄膜并且有着良好的光电特性,其平均光学透过率超过了84%,载流子霍尔迁移率高达24 cm2·V-1·s-1。随着射频功率从50 W上升到100 W,薄膜的光学带隙从3.68 e V逐渐增加到3.76 e V。研究发现,薄膜的电学性能强烈依赖于射频功率。随着功率的增加,薄膜的电学性能呈现出先变好后变差的变化规律。当射频功率为80 W时,ITZO薄膜拥有最佳的电学性能,其电阻率为3.80×10-4Ω·cm,载流子浓度为6.45×1020cm-3,霍尔迁移率为24.14 cm2·V-1·s-1。
关键词
铟锡锌氧化物薄膜
光学带隙
光电特性
射频功率
Keywords
ITZO thin film
optical band gap
photoelectric property
RF power
分类号
TN304.2 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
溅射气压对铟锡锌氧化物薄膜晶体管性能的影响
刘媛媛
赵继凤
李延辉
宋淑梅
辛艳青
杨田林
《真空科学与技术学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016
5
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
射频功率对ITZO薄膜结构、形貌及光电特性的影响
童杨
王昆仑
刘媛媛
李延辉
宋淑梅
杨田林
《人工晶体学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015
1
在线阅读
下载PDF
职称材料
已选择
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条
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引证文献
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