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铟锡氧化物薄膜的生产现状与应用 被引量:24
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作者 刘世友 《材料科学与工程》 CSCD 1999年第2期98-100,80,共4页
介绍了铟锡氧化物(ITO)薄膜的特征,主要生产工艺及其在汽车、宇航、建筑、电子、太阳能等领域的应用。
关键词 铟锡氧化物薄膜 特性 生产工艺 应用 展望 ITO
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溅射气压对铟锡锌氧化物薄膜晶体管性能的影响 被引量:5
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作者 刘媛媛 赵继凤 +3 位作者 李延辉 宋淑梅 辛艳青 杨田林 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第4期391-396,共6页
利用射频磁控溅射技术,在不同溅射气压下制备了铟锡锌氧化物薄膜晶体管(ITZO TFT),分析了ITZO TFT电学性能随气压的变化规律。研究结果表明:非晶ITZO TFT的工作模式均为耗尽型;随着气压的增大,亚阈值摆幅及阈值电压先减小后增大、场效... 利用射频磁控溅射技术,在不同溅射气压下制备了铟锡锌氧化物薄膜晶体管(ITZO TFT),分析了ITZO TFT电学性能随气压的变化规律。研究结果表明:非晶ITZO TFT的工作模式均为耗尽型;随着气压的增大,亚阈值摆幅及阈值电压先减小后增大、场效应迁移率逐渐减小,这是由载流子浓度和界面缺陷密度两方面因素共同决定的。溅射气压为0.4 Pa时,ITZO TFT综合性能最好,场效应迁移率高达24.32 cm^2/V·s,亚阈值摆幅为1.10 V/decade,电流开关比达到10~6。此外,ITZO有源层在可见光范围内的平均透过率超过80%,光学带隙值在3.2~3.4 eV之间,随气压的升高先减小后增大。 展开更多
关键词 溅射气压 铟锡氧化物薄膜晶体管 磁控溅射 光学带隙
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ITO薄膜的生产技术概况及发展趋势探讨 被引量:13
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作者 周宏明 易丹青 杨小玲 《表面技术》 EI CAS CSCD 2006年第1期1-4,共4页
综述了铟锡氧化物(ITO)薄膜的生产技术概况及其发展趋势。介绍了ITO薄膜的主要制备技术的制备原理,包括磁控溅射法、溶胶-凝胶法、化学气相沉淀法、喷雾热分解法及真空蒸发法等5种制膜工艺,并对其优缺点进行了分析。指出ITO薄膜生产技... 综述了铟锡氧化物(ITO)薄膜的生产技术概况及其发展趋势。介绍了ITO薄膜的主要制备技术的制备原理,包括磁控溅射法、溶胶-凝胶法、化学气相沉淀法、喷雾热分解法及真空蒸发法等5种制膜工艺,并对其优缺点进行了分析。指出ITO薄膜生产技术的发展趋势为:1)大力开发溶胶-凝胶工艺;2)进一步深入研究其合成机理与性能;3)拓宽应用领域;4)开发先进的薄膜制备工艺技术。 展开更多
关键词 铟锡氧化物薄膜 制膜工艺 溶胶-凝胶法 发展趋势
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辅助离子束功率密度对透明塑料上室温磁控溅射沉积ITO薄膜结构和形貌的影响 被引量:2
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作者 望咏林 颜悦 +2 位作者 温培刚 伍建华 张官理 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第S1期1-4,共4页
基于双极脉冲磁控溅射复合离子束辅助沉积的新工艺,在透明塑料聚碳酸酯基片上,常温制备了透明导电的铟锡氧化物(ITO)薄膜。重点研究了不同辅助离子束功率密度对ITO薄膜晶体结构和表面形貌的影响。结果表明:当离子束功率密度从52mW/cm2... 基于双极脉冲磁控溅射复合离子束辅助沉积的新工艺,在透明塑料聚碳酸酯基片上,常温制备了透明导电的铟锡氧化物(ITO)薄膜。重点研究了不同辅助离子束功率密度对ITO薄膜晶体结构和表面形貌的影响。结果表明:当离子束功率密度从52mW/cm2逐渐增加到436mW/cm2时,薄膜逐渐从非晶态转变为微晶态、直至长大为多晶态,晶体呈现(222)择优取向;薄膜在非晶态时表面相对平坦,随着晶粒的长大,表面均方根粗糙度Rq增加,并在离子束功率密度为436mW/cm2时最大。离子束功率密度进一步增大到680mW/cm2时,薄膜的晶体衍射峰强度变弱、峰的半高宽变大,表明晶粒尺寸变小;薄膜表面均方根粗糙度下降。离子束功率密度为252mW/cm2,ITO薄膜具有最佳综合光电性能. 展开更多
关键词 铟锡氧化物薄膜 室温制备 离子束辅助磁控溅射 结构与形貌 透明塑料衬底
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ITO/PLZT薄膜湿法刻蚀研究 被引量:7
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作者 闻伟 杨传仁 +3 位作者 张继华 陈宏伟 梁鸿秋 张瑞婷 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2008年第6期745-746,750,共3页
介绍了一种锆钛酸铅镧(PLZT)基铟锡氧化物(ITO)薄膜的湿法刻蚀法。用V(HCl)∶V(HNO3)∶V(H2O)=50∶3∶50的混合溶液对ITO进行不同温度的刻蚀试验。通过扫描电子显微镜(SEM)和X-射线能谱仪(EDS)分析表明,在35℃经30 nm/min刻蚀能得到图... 介绍了一种锆钛酸铅镧(PLZT)基铟锡氧化物(ITO)薄膜的湿法刻蚀法。用V(HCl)∶V(HNO3)∶V(H2O)=50∶3∶50的混合溶液对ITO进行不同温度的刻蚀试验。通过扫描电子显微镜(SEM)和X-射线能谱仪(EDS)分析表明,在35℃经30 nm/min刻蚀能得到图形边缘质量良好和表面无残留物的ITO图形;在同等条件下刻蚀的PLZT薄膜,刻蚀速率不及ITO的2%,表明该刻蚀方法具有良好的选择性。 展开更多
关键词 铟锡氧化物(ITO)薄膜 锆钛酸铅镧(PLZT)薄膜 湿法刻蚀 图形化
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射频功率对ITZO薄膜结构、形貌及光电特性的影响 被引量:1
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作者 童杨 王昆仑 +3 位作者 刘媛媛 李延辉 宋淑梅 杨田林 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第9期2338-2342,2349,共6页
在室温下采用射频磁控溅射方法在玻璃衬底上制备了200 nm厚的铟锡锌氧化物(ITZO)薄膜,研究了不同功率下薄膜结构、形貌、光学和电学性能的变化规律。结果表明,ITZO薄膜为非晶薄膜并且有着良好的光电特性,其平均光学透过率超过了84%,载... 在室温下采用射频磁控溅射方法在玻璃衬底上制备了200 nm厚的铟锡锌氧化物(ITZO)薄膜,研究了不同功率下薄膜结构、形貌、光学和电学性能的变化规律。结果表明,ITZO薄膜为非晶薄膜并且有着良好的光电特性,其平均光学透过率超过了84%,载流子霍尔迁移率高达24 cm2·V-1·s-1。随着射频功率从50 W上升到100 W,薄膜的光学带隙从3.68 e V逐渐增加到3.76 e V。研究发现,薄膜的电学性能强烈依赖于射频功率。随着功率的增加,薄膜的电学性能呈现出先变好后变差的变化规律。当射频功率为80 W时,ITZO薄膜拥有最佳的电学性能,其电阻率为3.80×10-4Ω·cm,载流子浓度为6.45×1020cm-3,霍尔迁移率为24.14 cm2·V-1·s-1。 展开更多
关键词 铟锡氧化物薄膜 光学带隙 光电特性 射频功率
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ITO靶材在溅射过程中结瘤行为的研究 被引量:4
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作者 姚吉升 唐三川 《真空科学与技术》 CSCD 北大核心 2002年第B12期47-50,共4页
本文报导了ITO靶材溅射时,靶材表面的时效变化和靶材表面结瘤物的组成及其微结构;探讨了结瘤物生成的原因和减缓瘤子生成的方法,对改善ITO膜质有较好的参考价值。
关键词 ITO靶材 ITO膜 结瘤 黑化物 磁控溅射 铟锡氧化物薄膜 镀膜
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PEN为衬底的柔性有机电致发光器件的光电性能 被引量:2
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作者 李杰 蒋亚东 +1 位作者 于欣格 于军胜 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2012年第2期240-242,246,共4页
采用直流磁控溅射技术,在聚对萘二甲酸乙二醇酯(PEN)柔性衬底上制备了氧化物铟锡(ITO)导电薄膜,研究了衬底温度和薄膜厚度工艺参数对柔性衬底上导电薄膜光学性能与电学性能的影响。在优化工艺的条件下,所制备的PEN导电基板的方阻低至35... 采用直流磁控溅射技术,在聚对萘二甲酸乙二醇酯(PEN)柔性衬底上制备了氧化物铟锡(ITO)导电薄膜,研究了衬底温度和薄膜厚度工艺参数对柔性衬底上导电薄膜光学性能与电学性能的影响。在优化工艺的条件下,所制备的PEN导电基板的方阻低至35Ω/□,且可见光透过率大于95%;以此柔性ITO衬底为阳极,制备了结构为PEN/ITO/NPB/Alq3/Al的柔性有机电致发光器件。作为对比,选用多种不同的衬底材料制备了有机电致发光器件,并比较了各器件性能的差异。 展开更多
关键词 有机电致发光器件 聚对萘二甲酸乙二醇酯(PEN)柔性衬底 氧化物铟锡(ITO)薄膜 磁控溅射
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