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铂膜温度传感器可靠性定级加速试验研究 被引量:7
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作者 郭建英 丁喜波 +1 位作者 孙永全 刘新华 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第6期1129-1133,共5页
针对电子元器件可靠性定级试验面临的困难,结合铂膜温度传感器可靠性研究,探讨了一种可实现的定级加速试验。在分析失效机理的基础上,选定了Arrhenius加速模型,求得激活能与待定常数。利用铂膜温度传感器多功能测试系统,完成铂膜温度传... 针对电子元器件可靠性定级试验面临的困难,结合铂膜温度传感器可靠性研究,探讨了一种可实现的定级加速试验。在分析失效机理的基础上,选定了Arrhenius加速模型,求得激活能与待定常数。利用铂膜温度传感器多功能测试系统,完成铂膜温度传感器可靠性定级加速试验。结果表明,在控制抽样数条件下,明显地缩短了试验时间,对工程实践有重要参考价值。 展开更多
关键词 失效率 铂膜温度传感器 可靠性定级试验 加速寿命试验
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