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8T CMOS图像传感器质子辐照效应研究 被引量:2
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作者 傅婧 李豫东 +2 位作者 冯婕 文林 郭旗 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第12期2128-2134,共7页
本文对新型8T CMOS图像传感器进行了不同能量的质子辐照实验。由于质子辐照后同时引入电离总剂量(TID)效应和位移损伤剂量(DDD)效应,使得器件参数的退化机理复杂。为了具体区分导致不同参数退化的主要因素,采用等效TID法和等效DDD法。... 本文对新型8T CMOS图像传感器进行了不同能量的质子辐照实验。由于质子辐照后同时引入电离总剂量(TID)效应和位移损伤剂量(DDD)效应,使得器件参数的退化机理复杂。为了具体区分导致不同参数退化的主要因素,采用等效TID法和等效DDD法。实验得出DDD效应主要引起暗电流的退化,而TID效应主要导致光谱响应的退化,实验结果为辐射环境下图像传感器的加固设计提供了理论依据。 展开更多
关键词 CMOS图像传感器 钳位光电二极管 质子辐照 电离总剂量 移损伤剂量
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一种提升4T-APS像元量子效率的方法
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作者 李炘 唐威 +2 位作者 张冰 李栋 何杰 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2014年第3期119-121,125,共4页
通过调整钳位光电二极管P+层掺杂浓度与阈值注入浓度,抑制了4T-APS像元传输管亚阈值漏电,提升了像元的满阱能力与量子效率,并应用TCAD工具进行了仿真验证.结果表明,像元满阱容量可由3500e-提升至7900e-,550nm入射光条件下量子效率可提升... 通过调整钳位光电二极管P+层掺杂浓度与阈值注入浓度,抑制了4T-APS像元传输管亚阈值漏电,提升了像元的满阱能力与量子效率,并应用TCAD工具进行了仿真验证.结果表明,像元满阱容量可由3500e-提升至7900e-,550nm入射光条件下量子效率可提升27.8%. 展开更多
关键词 互补金属氧化物场效应管 图像传感器 有源像素传感器 钳位光电二极管 满阱能力 量子效率
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