期刊导航
期刊开放获取
上海教育软件发展有限公..
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
2
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
8T CMOS图像传感器质子辐照效应研究
被引量:
2
1
作者
傅婧
李豫东
+2 位作者
冯婕
文林
郭旗
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2021年第12期2128-2134,共7页
本文对新型8T CMOS图像传感器进行了不同能量的质子辐照实验。由于质子辐照后同时引入电离总剂量(TID)效应和位移损伤剂量(DDD)效应,使得器件参数的退化机理复杂。为了具体区分导致不同参数退化的主要因素,采用等效TID法和等效DDD法。...
本文对新型8T CMOS图像传感器进行了不同能量的质子辐照实验。由于质子辐照后同时引入电离总剂量(TID)效应和位移损伤剂量(DDD)效应,使得器件参数的退化机理复杂。为了具体区分导致不同参数退化的主要因素,采用等效TID法和等效DDD法。实验得出DDD效应主要引起暗电流的退化,而TID效应主要导致光谱响应的退化,实验结果为辐射环境下图像传感器的加固设计提供了理论依据。
展开更多
关键词
CMOS图像传感器
钳位光电二极管
质子辐照
电离总剂量
位
移损伤剂量
在线阅读
下载PDF
职称材料
一种提升4T-APS像元量子效率的方法
2
作者
李炘
唐威
+2 位作者
张冰
李栋
何杰
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2014年第3期119-121,125,共4页
通过调整钳位光电二极管P+层掺杂浓度与阈值注入浓度,抑制了4T-APS像元传输管亚阈值漏电,提升了像元的满阱能力与量子效率,并应用TCAD工具进行了仿真验证.结果表明,像元满阱容量可由3500e-提升至7900e-,550nm入射光条件下量子效率可提升...
通过调整钳位光电二极管P+层掺杂浓度与阈值注入浓度,抑制了4T-APS像元传输管亚阈值漏电,提升了像元的满阱能力与量子效率,并应用TCAD工具进行了仿真验证.结果表明,像元满阱容量可由3500e-提升至7900e-,550nm入射光条件下量子效率可提升27.8%.
展开更多
关键词
互补金属氧化物场效应管
图像传感器
有源像素传感器
钳位光电二极管
满阱能力
量子效率
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
8T CMOS图像传感器质子辐照效应研究
被引量:
2
1
作者
傅婧
李豫东
冯婕
文林
郭旗
机构
中国科学院新疆理化技术研究所
新疆电子信息材料与器件重点实验室
中国科学院大学
出处
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2021年第12期2128-2134,共7页
基金
Supported by National Natural Science Foundation of China (11805269)
Tianshan Youth Project of Autonomous Region under Grant(2019Q085)
Key Deployment Projects of Chinese Academy of Sciences(ZDRW-CN-2020-2)。
文摘
本文对新型8T CMOS图像传感器进行了不同能量的质子辐照实验。由于质子辐照后同时引入电离总剂量(TID)效应和位移损伤剂量(DDD)效应,使得器件参数的退化机理复杂。为了具体区分导致不同参数退化的主要因素,采用等效TID法和等效DDD法。实验得出DDD效应主要引起暗电流的退化,而TID效应主要导致光谱响应的退化,实验结果为辐射环境下图像传感器的加固设计提供了理论依据。
关键词
CMOS图像传感器
钳位光电二极管
质子辐照
电离总剂量
位
移损伤剂量
Keywords
CMOS image sensor
pinned photodiode
proton irradiation
total ionization dose
displacement damage dose
分类号
O571.5 [理学—粒子物理与原子核物理]
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
一种提升4T-APS像元量子效率的方法
2
作者
李炘
唐威
张冰
李栋
何杰
机构
西安微电子技术研究所
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2014年第3期119-121,125,共4页
文摘
通过调整钳位光电二极管P+层掺杂浓度与阈值注入浓度,抑制了4T-APS像元传输管亚阈值漏电,提升了像元的满阱能力与量子效率,并应用TCAD工具进行了仿真验证.结果表明,像元满阱容量可由3500e-提升至7900e-,550nm入射光条件下量子效率可提升27.8%.
关键词
互补金属氧化物场效应管
图像传感器
有源像素传感器
钳位光电二极管
满阱能力
量子效率
Keywords
CMOS
Image Sensor
APS
PPD
Full well capacity
Quantum efficiency
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
8T CMOS图像传感器质子辐照效应研究
傅婧
李豫东
冯婕
文林
郭旗
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2021
2
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
一种提升4T-APS像元量子效率的方法
李炘
唐威
张冰
李栋
何杰
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2014
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部