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Nafion修饰金膜玻碳电极溶出伏安法测定痕量Se(Ⅳ)的研究
被引量：
3
1
作者
汪振辉
张宏忠
周漱萍
《理化检验（化学分册）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第11期494-497,共4页
提出了Nafion修饰金膜玻碳电极测定痕量硒的新方法。在0.1mol·L^(-1)硫酸和0.01mol·L^(-1)硝酸钠的介质中,Se(Ⅳ)浓度在5.0×10^(-10)～2.5×10^(-8)mol·L^(-1)范围与二次导数峰电流呈良好线性关系,测定下限为5....
提出了Nafion修饰金膜玻碳电极测定痕量硒的新方法。在0.1mol·L^(-1)硫酸和0.01mol·L^(-1)硝酸钠的介质中,Se(Ⅳ)浓度在5.0×10^(-10)～2.5×10^(-8)mol·L^(-1)范围与二次导数峰电流呈良好线性关系,测定下限为5.0×10^(-10)mol·L^(-1)(电积2min)。对含硒量为1.3×10^(-8)mol·L^(-1)溶液,相对标准偏差为3.7％(n=12)。电极修饰后方法的选择性、灵敏度、重现性和分辨率都有改善。方法已成功地用于猪肾和不同人发中的硒含量测定。
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关键词
硒
修饰
电极
溶出伏安法
NAFION
金膜玻碳电极
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职称材料
题名
Nafion修饰金膜玻碳电极溶出伏安法测定痕量Se(Ⅳ)的研究
被引量：
3
1
作者
汪振辉
张宏忠
周漱萍
机构
河南师范大学化学系
出处
《理化检验（化学分册）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第11期494-497,共4页
基金
河南省自然科学基金资助课题
文摘
提出了Nafion修饰金膜玻碳电极测定痕量硒的新方法。在0.1mol·L^(-1)硫酸和0.01mol·L^(-1)硝酸钠的介质中,Se(Ⅳ)浓度在5.0×10^(-10)～2.5×10^(-8)mol·L^(-1)范围与二次导数峰电流呈良好线性关系,测定下限为5.0×10^(-10)mol·L^(-1)(电积2min)。对含硒量为1.3×10^(-8)mol·L^(-1)溶液,相对标准偏差为3.7％(n=12)。电极修饰后方法的选择性、灵敏度、重现性和分辨率都有改善。方法已成功地用于猪肾和不同人发中的硒含量测定。
关键词
硒
修饰
电极
溶出伏安法
NAFION
金膜玻碳电极
Keywords
Selenium Modified electrode Anodic stripping voltammetry
分类号
O613.52 [理学—无机化学]
Q581 [生物学—生物化学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Nafion修饰金膜玻碳电极溶出伏安法测定痕量Se(Ⅳ)的研究
汪振辉
张宏忠
周漱萍
《理化检验（化学分册）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997
3
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