期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
硅衬底CMOS射频集成电路中金属厚度对平面螺旋电感Q值的影响 被引量:3
1
作者 陈雪芳 程东方 杨文荣 《上海大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2005年第5期455-459,共5页
该文着重分析金属线厚度对Q值的影响.为此设计了三组电感,它们的金属线厚度分别为51、0和20μm,并用Ansoft HFSS软件进行FEM(finite element method)的仿真.仿真的结果表明,金属线厚度对电感Q值的影响在很大程度上取决于电感内径的大小... 该文着重分析金属线厚度对Q值的影响.为此设计了三组电感,它们的金属线厚度分别为51、0和20μm,并用Ansoft HFSS软件进行FEM(finite element method)的仿真.仿真的结果表明,金属线厚度对电感Q值的影响在很大程度上取决于电感内径的大小.因此当金属线厚度超过10μm时,通过进一步增加金属线厚度来改善Q值仍是可能的. 展开更多
关键词 平面螺旋电感 金属线厚度 串联电阻 Q值 RF集成电路
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部