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金属杂质粒子诱导薄膜的损伤机理研究
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作者 张秋慧 冯国英 +1 位作者 李娜 韩敬华 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2013年第1期159-162,共4页
薄膜内的杂质粒子极易诱导薄膜损伤,研究了金属粒子诱导HfO2薄膜损伤的特征,并基于金属粒子的热力学过程进行了分析。金属粒子对激光的强烈吸收将引起薄膜的熔化、气化以及电离,从而引起薄膜的剥离和脱落,形成圆状坑点;金属粒子对激光... 薄膜内的杂质粒子极易诱导薄膜损伤,研究了金属粒子诱导HfO2薄膜损伤的特征,并基于金属粒子的热力学过程进行了分析。金属粒子对激光的强烈吸收将引起薄膜的熔化、气化以及电离,从而引起薄膜的剥离和脱落,形成圆状坑点;金属粒子对激光的吸收、热扩散以及热膨胀效应与其尺寸等密切相关;从温升规律分析,在相同激光能量辐照下,粒子大小引起的温升不同,从而形成大小不一的点坑状破坏点,且存在一个温升效应最强的粒径,最易引起薄膜的损伤;从金属粒子激光等离子体的辐射效应分析,金属粒子的辐射谱主要集中在紫外部分,辐射光子能量比入射激光光子能量强,具有更强的电离能力,从而加剧了薄膜的去除。 展开更多
关键词 激光诱导损伤 金属粒子 热力学效应 金属粒子等离子体
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