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重频电磁脉冲对可控硅触发系统的电磁干扰 被引量:5
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作者 冯德仁 姚锋 +3 位作者 刘梦菲 何山红 车文荃 熊瑛 《高电压技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第9期2693-2698,共6页
针对重频电磁脉冲(EMP)干扰现象,以可控硅门极触发电路为研究对象,进行了门极共地耦合电磁干扰的理论研究,并针对重频EMP环境下可控硅触发的可靠性,分别进行了不同重频EMP数量与不同重频EMP时间间隔下可控硅的触发输出实验。结果表明:重... 针对重频电磁脉冲(EMP)干扰现象,以可控硅门极触发电路为研究对象,进行了门极共地耦合电磁干扰的理论研究,并针对重频EMP环境下可控硅触发的可靠性,分别进行了不同重频EMP数量与不同重频EMP时间间隔下可控硅的触发输出实验。结果表明:重频EMP会影响可控硅的触发,重频EMP数量增多与间隔减小均使可控硅误触发的可能性增大。对比理论分析与实验结果,认为重频EMP干扰是由于重频EMP累积效应与重频EMP高频分量增强从而导致交互作用耦合增强所引起。 展开更多
关键词 重频电磁脉冲 可控硅 电磁干扰 积累效应 共地耦合 操作过电压
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