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嵌入式C代码释放后重用缺陷检测
被引量：
4
1
作者
王亚昕
李孝庆
+3 位作者
伍高飞
唐士建
朱亚杰
董婷
《西安电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2021年第1期124-132,148,共10页
C代码中的释放后重用缺陷严重影响着嵌入式系统的鲁棒性与可靠性。针对此类漏洞的现有检测方案多针对于计算机系统及应用程序,无法为复杂多样的嵌入式程序提供支持。静态代码分析可以在没有代码运行环境的前提下进行代码缺陷检测。因此...
C代码中的释放后重用缺陷严重影响着嵌入式系统的鲁棒性与可靠性。针对此类漏洞的现有检测方案多针对于计算机系统及应用程序,无法为复杂多样的嵌入式程序提供支持。静态代码分析可以在没有代码运行环境的前提下进行代码缺陷检测。因此,基于LLVM编译框架设计了静态污点追踪方案,实现了针对释放后重用缺陷代码特征的自动化检测。实验结果证明了该方法能够快速、准确地检测C代码释放后重用缺陷,并且能够在大规模的嵌入式C代码项目中应用。
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关键词
嵌入式系统
C语言
释放后重用
代码缺陷检测
静态代码分析
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题名
嵌入式C代码释放后重用缺陷检测
被引量：
4
1
作者
王亚昕
李孝庆
伍高飞
唐士建
朱亚杰
董婷
机构
北京空间机电研究所
西安电子科技大学网络与信息安全学院
出处
《西安电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2021年第1期124-132,148,共10页
基金
国家自然科学基金(61602361,U1836210,61572460),国家重点研发计划(2018YFB080470)。
文摘
C代码中的释放后重用缺陷严重影响着嵌入式系统的鲁棒性与可靠性。针对此类漏洞的现有检测方案多针对于计算机系统及应用程序,无法为复杂多样的嵌入式程序提供支持。静态代码分析可以在没有代码运行环境的前提下进行代码缺陷检测。因此,基于LLVM编译框架设计了静态污点追踪方案,实现了针对释放后重用缺陷代码特征的自动化检测。实验结果证明了该方法能够快速、准确地检测C代码释放后重用缺陷,并且能够在大规模的嵌入式C代码项目中应用。
关键词
嵌入式系统
C语言
释放后重用
代码缺陷检测
静态代码分析
Keywords
embedded system
C programs
use-after-free
bug detection
static code analysis
分类号
TP312 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
嵌入式C代码释放后重用缺陷检测
王亚昕
李孝庆
伍高飞
唐士建
朱亚杰
董婷
《西安电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2021
4
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