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XPS在酞菁类有机半导体研究方面的应用 被引量:2
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作者 徐明生 季振国 +4 位作者 袁骏 许倩斐 阙端麟 陈红征 汪茫 《真空科学与技术》 CSCD 北大核心 2000年第1期55-59,共5页
作为探测分子和样品表面和界面的电子结构的有效手段 ,XPS能够为材料及器件的设计提供有价值的信息。本文从定量分析、生长模式。
关键词 有机导体 X光电子能谱 电子结构 酞菁类半导体
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