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SPEK-C膜的正电子湮灭寿命谱学研究 被引量:1
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作者 马卫涛 张永明 +3 位作者 朱大鸣 阴泽杰 徐铜文 图图英 《中国科学技术大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2005年第3期434-439,共6页
利用正电子湮灭寿命谱(PALS)法及原子力显微镜(AFM),研究了磺化及溶剂蒸发对(磺化)酚酞侧基聚芳醚硐(SPEK-C)膜制备的影响.结果表明:磺化基团的引入,降低了分子间的作用力,使得分子间排列不紧密,导致聚合物的自由体积大小与强度同时增加... 利用正电子湮灭寿命谱(PALS)法及原子力显微镜(AFM),研究了磺化及溶剂蒸发对(磺化)酚酞侧基聚芳醚硐(SPEK-C)膜制备的影响.结果表明:磺化基团的引入,降低了分子间的作用力,使得分子间排列不紧密,导致聚合物的自由体积大小与强度同时增加;铸膜液溶剂挥发,聚合物浓度增加,胶束聚集体的相互聚集产生较大的胶束聚集体孔,使自由体积减小而强度增大,聚合物的自由体积较好地反映了胶束聚集体的聚集特征. 展开更多
关键词 正电子湮灭寿命谱 酚酞侧基聚芳醚硐 原子力显微镜 自由体积 相转化
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