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递归学习寻找对称变量
被引量：
1
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作者
张镭
林争辉
吕宗伟
《上海交通大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第12期1709-1712,共4页
逻辑验证和逻辑综合中 ,利用对称变量的性质能提高算法整体的效率 .通常 fxixj=fxjxi被用来检验变量的对称性 .一般先分别建立 fxixj和 fxjxi的 BDD( Binary Decision Diagram)二分决策图 ,然后通过检查两 BDD图是否同构来验证 ...
逻辑验证和逻辑综合中 ,利用对称变量的性质能提高算法整体的效率 .通常 fxixj=fxjxi被用来检验变量的对称性 .一般先分别建立 fxixj和 fxjxi的 BDD( Binary Decision Diagram)二分决策图 ,然后通过检查两 BDD图是否同构来验证 fxixj=fxjxi.但将电路转化为 BDD图本身就需要一定的时间 ,而且对于大的电路 ,存在 BDD图不能建立的可能性 ,致使同构验证无法进行 .本文利用递归学习 ,无需建立 BDD图直接在电路拓扑图上验证 fxixj=fxjxi.递归学习算法执行效率高 ,可以大大缩减对称变量检测的过程 .试验结果表明 ,利用递归学习算法检测对称变量执行时间减少 ,并且能将大的电路作为检测对象 .
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关键词
逻辑集成电路
对称变量
递归学习算法
测试生成
逻辑函数
二分决策图
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职称材料
题名
递归学习寻找对称变量
被引量：
1
1
作者
张镭
林争辉
吕宗伟
机构
上海交通大学大规模集成电路研究所
出处
《上海交通大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第12期1709-1712,共4页
基金
美国国家科学基金资助项目 (5 978East Asia andPacific Program-960 2 485 )
文摘
逻辑验证和逻辑综合中 ,利用对称变量的性质能提高算法整体的效率 .通常 fxixj=fxjxi被用来检验变量的对称性 .一般先分别建立 fxixj和 fxjxi的 BDD( Binary Decision Diagram)二分决策图 ,然后通过检查两 BDD图是否同构来验证 fxixj=fxjxi.但将电路转化为 BDD图本身就需要一定的时间 ,而且对于大的电路 ,存在 BDD图不能建立的可能性 ,致使同构验证无法进行 .本文利用递归学习 ,无需建立 BDD图直接在电路拓扑图上验证 fxixj=fxjxi.递归学习算法执行效率高 ,可以大大缩减对称变量检测的过程 .试验结果表明 ,利用递归学习算法检测对称变量执行时间减少 ,并且能将大的电路作为检测对象 .
关键词
逻辑集成电路
对称变量
递归学习算法
测试生成
逻辑函数
二分决策图
Keywords
logic integrated circuits
symmetry variables
recursive learning
test generation
分类号
TN431.2 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
递归学习寻找对称变量
张镭
林争辉
吕宗伟
《上海交通大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002
1
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