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低碳钢中纳米尺度沉淀相的透射电子显微术研究(英文) 被引量:10
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作者 柳得橹 王元立 +2 位作者 霍向东 陈南京 邵伟然 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2002年第3期283-286,共4页
本文用电子显微镜技术对CSP工艺生产的普通低碳钢进行了研究 ,实验结果表明在试样中形成了大量细小的弥散沉淀粒子 ,电子衍射与XEDS分析证实这些沉淀是具有尖晶石结构的氧化铁以及硫化物 ,氧化物尺寸在 2 0nm以下 ,大量分布在晶界和位... 本文用电子显微镜技术对CSP工艺生产的普通低碳钢进行了研究 ,实验结果表明在试样中形成了大量细小的弥散沉淀粒子 ,电子衍射与XEDS分析证实这些沉淀是具有尖晶石结构的氧化铁以及硫化物 ,氧化物尺寸在 2 0nm以下 ,大量分布在晶界和位错上。晶界上还有尺寸在 1 0 0~ 4 0 0nm左右的硫化物粒子。这些沉淀使低碳钢的强度提高近一倍 。 展开更多
关键词 纳米尺度 沉淀相 低碳钢 弥散沉淀 透射电子显微术
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透射电子显微术和高分辨X射线衍射技术研究AlN单晶生长习性 被引量:5
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作者 李娟 胡小波 +2 位作者 高玉强 王翎 徐现刚 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第5期1117-1120,共4页
采用透射电子显微术和高分辨X射线衍射技术对氮化硼坩埚中自发成核的AlN单晶生长习性进行了研究。结果表明,在低温下,AlN单晶显露面为(0001)面,随着温度的升高,AlN单晶显露面转化为(112-0)面。沟槽结构是高温下得到的AlN单晶共有的显著... 采用透射电子显微术和高分辨X射线衍射技术对氮化硼坩埚中自发成核的AlN单晶生长习性进行了研究。结果表明,在低温下,AlN单晶显露面为(0001)面,随着温度的升高,AlN单晶显露面转化为(112-0)面。沟槽结构是高温下得到的AlN单晶共有的显著特征,其取向沿[0001]方向。 展开更多
关键词 透射电子显微术 高分辨X射线衍射仪 AlN单晶
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应用与透射电子显微术相结合的电子能量损失谱(EELS)测定矿物中Ce和Fe的氧化态(英文)
3
作者 徐惠芳 《高校地质学报》 CAS CSCD 2000年第2期137-144,共8页
在透射电子显微镜 (TEM )中 ,与样品发生弹性散射的高能电子可被用于成像和产生选区电子衍射 (SAED) ,它们能提供关于样品结构的重要信息。高分辨透射电子显微镜 (HRTEM )由于它具有高的空间分辨率 ,因而可以在原子的尺度上来研究样品... 在透射电子显微镜 (TEM )中 ,与样品发生弹性散射的高能电子可被用于成像和产生选区电子衍射 (SAED) ,它们能提供关于样品结构的重要信息。高分辨透射电子显微镜 (HRTEM )由于它具有高的空间分辨率 ,因而可以在原子的尺度上来研究样品的结构和微结构 (或织构 )。此外 ,TEM中入射的高能电子还经历了与样品的非弹性相互作用 ,它可以提供关于样品的化学和电子结构的进一步信息。据此 ,以TEM中的X射线能量色散谱学 (EDS)和电子能量损失谱学 (EELS)为基础 ,产生了分析电子显微术 (AEM )。其中EELS能够提供有关样品的诸如定量化学分析 (包括除氢以外的所有元素 )、氧化态、配位、结晶度以及化学键合类型等有价值的信息。HRTEM与EELS结合的研究则能从纳米尺度上提供关于矿物反应的微结构和微化学信息。应用以M4 和M5边的电子能量损失近边结构 (ELNES)为基础的EELS ,研究了被建议作为放射性废料寄主相的烧绿石中Ce的氧化态。与Ce3+ 相比 ,Ce4 + 的M4 和M5边具有较高的能量损失。M4 与M5边之间以及它们之后的弱峰之间的强度比可用于Ce3+ 与Ce4 + 的定量分析。在内蒙所产烧绿石矿物的颗粒 ,其未蚀变区的EELS数据指示出有Ce3+ 及其他稀士元素。然而由相邻蚀变区得出的EELS光谱则显示为Ce4 + 、Ba及其他稀土元素。 展开更多
关键词 电子能量损失谱 透射电子显微术 矿物分析
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材料的透射电子显微术和衍射术
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《核化学与放射化学》 CAS CSCD 北大核心 2004年第2期76-76,共1页
关键词 书评 《材料的透射电子显微术和衍射 Brent Fultz 波相干 原子散射
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像差校正高分辨透射电子显微术及其在表征功能氧化物材料结构及界面中的应用
5
作者 米少波 贾春林 《中国材料进展》 CAS CSCD 北大核心 2017年第7期566-574,共9页
简要介绍基于像差校正高分辨透射电子显微镜的负球差成像技术及其在研究功能氧化物材料原子构型中的应用。在亚埃尺度的空间分辨率下,负球差成像技术不但可以获得高衬度的原子尺度结构像,而且可以在皮米精度测量材料中的原子的相对位移... 简要介绍基于像差校正高分辨透射电子显微镜的负球差成像技术及其在研究功能氧化物材料原子构型中的应用。在亚埃尺度的空间分辨率下,负球差成像技术不但可以获得高衬度的原子尺度结构像,而且可以在皮米精度测量材料中的原子的相对位移,从而精确表征材料结构、晶格缺陷的细微变化及其对材料性能的影响。负球差成像技术为定量解析材料中包含轻原子(例如,氧)在内的精细结构问题提供了有力的手段。重点介绍了负球差成像技术在表征铁电材料电偶极矩、畴结构及畴壁,氧化物异质界面和三维Mg O晶体表面精细结构中的应用。 展开更多
关键词 界面 显微结构 氧化物 像差校正高分辨透射电子显微术 负球差成像
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日本电子现代透射电子显微术研讨会(英文)
6
《电子显微学报》 CAS CSCD 2008年第2期172-172,共1页
We have the great pleasure to announce that the JEOL High-End Transmission Electron Microscopy Seminar shall be held on 17 June,2008 in Beijing. To provide cutting-edge electron microscopy,several world well known res... We have the great pleasure to announce that the JEOL High-End Transmission Electron Microscopy Seminar shall be held on 17 June,2008 in Beijing. To provide cutting-edge electron microscopy,several world well known researchers are invited to deliver their talks on recently prominent accomplishment by using the latest transmission electron microscopes.Special interest shall focus on the latest "aberration corrected" TEM and STEM and their abundant applications in imaging and analysis.To provide update information in advanced TEM sample preparation technologies,multi-beam system and the ion-milling shall also be the topics of this seminar. 展开更多
关键词 日本电子 透射电子显微术 研讨会
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Bi-2223/Ag带的透射电子显微术研究
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作者 刘春芳 《稀有金属快报》 CSCD 2002年第2期26-26,共1页
关键词 铋系超导带 透射电子显微术 超导临界电流
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PbO中层错及共生氧化物的电子显微术研究
8
作者 王岩国 郭九皋 于瀛大 《矿物学报》 CAS CSCD 北大核心 1996年第4期358-364,T002,共8页
在含于磁铁矿中的四方对称结构氧化铅中观察到柏格斯夫最为2/11(310)的{110}层错。这些层错平行排列并相互交截、穿插形成沿(100)方向的调制结构,调制波的平均波长约为100nm;同时,由多相共生区域的选区电子衍射图测定了磁铁... 在含于磁铁矿中的四方对称结构氧化铅中观察到柏格斯夫最为2/11(310)的{110}层错。这些层错平行排列并相互交截、穿插形成沿(100)方向的调制结构,调制波的平均波长约为100nm;同时,由多相共生区域的选区电子衍射图测定了磁铁矿中四方和正交氧化铅及方铁矿的取向关系。 展开更多
关键词 氧化铅 层错 调制结构 透射电子显微术 磁铁矿
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能量过滤透射电子显微学的发展与现状 被引量:5
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作者 陈鑫峰 王泽朝 钟虓 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2018年第5期540-548,共9页
在原子尺度上探测材料的结构、成分、键合和自旋等信息,对于预测和调控材料性能意义重大。能量过滤透射电子显微术可实现化学键面分布测量获得材料界面处的物相分布和化学键合信息,并结合断层成像实现三维尺度解析材料界面元素分布。但... 在原子尺度上探测材料的结构、成分、键合和自旋等信息,对于预测和调控材料性能意义重大。能量过滤透射电子显微术可实现化学键面分布测量获得材料界面处的物相分布和化学键合信息,并结合断层成像实现三维尺度解析材料界面元素分布。但较之于扫描透射电子显微术模式下电子能量损失谱技术,能量过滤透射电子显微术的空间分辨率和能量分辨率较差。基于能量过滤透射电子显微术的空间分辨电子能量损失谱技术,结合色差校正技术可获得原子面分辨电子能量损失谱与原子面分辨电子磁圆二色谱,克服了传统能量过滤透射电子显微术空间分辨率和能量分辨率较低的瓶颈。由于其实现了自旋构型原子尺度成像,在当今材料科学基础研究中具有重大的科学意义,对于在原子尺度理解自旋、晶格、电荷和轨道等多个自由度的结构参量与材料磁性能之间的相互关联有重要意义,在设计制造高密度、低功耗、快速的存储器件,推进信息与通讯技术方面有广阔的应用前景。 展开更多
关键词 能量过滤透射电子显微术 空间分辨电子能量损失谱 原子面分辨电子磁圆二色谱 化学键面分布测量 电子断层成像
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多晶体钛形变孪晶的电子显微分析 被引量:3
10
作者 李炎 长谷川明 吴逸贵 《河南科技大学学报(自然科学版)》 CAS 2004年第1期5-8,共4页
用透射电子显微镜(TEM)对密排六方多晶钛在拉伸变形中形成的孪晶进行了观察分析。并采用六方晶系孪晶面的变换矩阵对孪晶电子衍射花样进行了标定。结果表明,单个出现的凸透镜状粗大孪晶为(102),平行排列的板状孪晶为(112),孪晶内存在高... 用透射电子显微镜(TEM)对密排六方多晶钛在拉伸变形中形成的孪晶进行了观察分析。并采用六方晶系孪晶面的变换矩阵对孪晶电子衍射花样进行了标定。结果表明,单个出现的凸透镜状粗大孪晶为(102),平行排列的板状孪晶为(112),孪晶内存在高密度位错。 展开更多
关键词 钛钢 晶体点阵 拉伸变形 机械孪生 透射电子显微术 多晶体钛 孪晶
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电子显微镜成像质量与样品倾斜角度关系的数值化评价 被引量:1
11
作者 杨超 张海波 鹰冈昭夫 《西安交通大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第10期1063-1066,共4页
提出用计算图像点扩散函数的等效面积(归一化点扩散函数值大于等于0 7071时所对应的自变量定义域的面积)的方法来评价电镜图像质量,用此方法对一组实际的用于三维重构的超高压电镜图像的质量进行了分析,从计算值上得出电子显微镜成像质... 提出用计算图像点扩散函数的等效面积(归一化点扩散函数值大于等于0 7071时所对应的自变量定义域的面积)的方法来评价电镜图像质量,用此方法对一组实际的用于三维重构的超高压电镜图像的质量进行了分析,从计算值上得出电子显微镜成像质量与样品倾斜角度的关系.在样品单轴旋转的条件下,随着样品倾斜角度的增加,电镜图像质量下降;倾斜角度大于60°时,图像质量急剧下降.30°、60°和70°时的点扩散函数的等效面积分别是0°时的2 5、4 5和11 7倍.这种镜像质量随样品倾斜角度(尤其是角度大于60°)增加而变差的效应,将限制通过增大样品倾斜角度范围来提高三维重构分辨率的效果,同时表明电镜三维重构中样品的倾斜存在最佳的角度范围. 展开更多
关键词 透射电子显微术 图像质量 点扩散函数 三维重构
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双壁碳纳米管的电子显微学研究
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作者 张婧娉 HAKAN Deniz +3 位作者 秦禄昌 刘庆丰 任文才 成会明 《电子显微学报》 CAS CSCD 2007年第4期327-334,共8页
本文分析研究了甲酸镍二水合物作为催化剂前驱体,多壁管为原料,采用氢电弧放电法制得的双壁碳纳米管样品中不同管壁数目碳纳米管的分布及双壁碳管直径分布,发现样品中单壁和双壁碳管占主要地位,双壁管的内径主要分布在1.67 nm^3.67 nm之... 本文分析研究了甲酸镍二水合物作为催化剂前驱体,多壁管为原料,采用氢电弧放电法制得的双壁碳纳米管样品中不同管壁数目碳纳米管的分布及双壁碳管直径分布,发现样品中单壁和双壁碳管占主要地位,双壁管的内径主要分布在1.67 nm^3.67 nm之间,外径主要分布在2.33 nm^4.33 nm之间。此外,精确测定了三个双壁碳纳米管的螺旋指数,分别为[(28,3)(29,17)],[(19,8)(29,6)]及[(23,15)(28,22)],其电学性能分别为[半导体性,金属性],[半导体性,半导体性]及[半导体性,金属性]。同时,观察了在不同条件下的电子辐照效应。结果表明,经辐照碳管的最内层管壁先发生断裂,其形变速度逐渐变慢,单根碳管易依附于大块物质。在相同的辐照条件下,管壁数目越多碳管越稳定。当管壁数目相同时,直径小的管比直径大的管稳定。高加速电压能够加速碳管的变形。 展开更多
关键词 碳纳米管 透射电子显微术 电子衍射 电子辐照 螺旋度
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η-Cu6Sn5相表面重构的电子显微学研究
13
作者 崔文俊 江彬彬 +4 位作者 胡执一 Van-TENDELOO Gustaaf 叶恒强 杜奎 桑夏晗 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2020年第5期513-519,共7页
CuSn合金是重要的无铅焊料。在焊接冷却过程中186~189℃温度区间,具有NiAs B81结构的η-Cu6Sn5会发生相变形成具有多种调制结构的η’-Cu6Sn5相。该相变机理至今尚未清楚阐明。本文使用扫描透射电子显微学方法对空气冷却的CuSn合金中的... CuSn合金是重要的无铅焊料。在焊接冷却过程中186~189℃温度区间,具有NiAs B81结构的η-Cu6Sn5会发生相变形成具有多种调制结构的η’-Cu6Sn5相。该相变机理至今尚未清楚阐明。本文使用扫描透射电子显微学方法对空气冷却的CuSn合金中的η-Cu6Sn5进行精细结构表征,观察到η-Cu6Sn5晶粒表面形成一层厚度约为2~3 nm的富Cu重构层η~S-Cu6Sn5。表面重构导致多余Cu原子和部分Sn原子占据2(d)空位,其结构不同于已发现的各种超结构。发现η-Cu6Sn5晶粒内部多余Cu原子随机占据2(d)空位,形成短程有序结构,傅里叶变换出现三次调制结构。研究表明该相变是由Cu原子沿表面或晶间扩散主导,这对进一步揭示η’相调制结构的形成和提高CuSn焊料电学性能与机械性能具有重要意义,为优化焊接流程和降低电迁移效应提供了基础研究的支撑。 展开更多
关键词 η-Cu6Sn5 铜锡焊料 表面重构 球差校正透射电子显微术
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Zr微合金化对稀土镁合金微观结构和力学性能影响的电子显微学研究 被引量:1
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作者 王威振 周信哲 +1 位作者 杨志卿 叶恒强 《中国材料进展》 CAS CSCD 北大核心 2023年第3期185-197,214,共14页
微量Zr的添加不仅能够细化镁合金的晶粒,改善铸造性能,还会影响镁合金在热处理过程中微观结构的演变。利用多种电子显微学技术系统研究了Zr微合金化影响Mg-Zn-Nd镁合金力学性能和微观结构演变的机理。研究表明,含有微量Zr的Mg-2.7Nd-0.6... 微量Zr的添加不仅能够细化镁合金的晶粒,改善铸造性能,还会影响镁合金在热处理过程中微观结构的演变。利用多种电子显微学技术系统研究了Zr微合金化影响Mg-Zn-Nd镁合金力学性能和微观结构演变的机理。研究表明,含有微量Zr的Mg-2.7Nd-0.6Zn-0.5Zr镁合金经798 K固溶处理后,大量纳米Zn-Zr相的析出显著提升了该合金的显微硬度。在系列微束电子衍射分析的基础上,结合多方向原子分辨率结构和成分分析,确定了这些纳米Zn-Zr相为简单四方结构的Zn_(2)Zr_(3)相(空间群:P42/mnm,a=b=0.761 nm,c=0.682 nm),并重构出其原子构型。此外,研究结果还表明固溶处理过程中形成的纳米尺寸Zn_(2)Zr_(3)相,降低了基体中Zn元素的含量,显著提升了强化效果较好的柱面析出相β1-Mg3Nd的比例,进而提高了合金峰时效后的强度。研究结果丰富了Zr影响镁合金微观结构和力学性能机理的研究。 展开更多
关键词 镁合金 微观结构 微合金化 强化 透射电子显微术
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厚样品电子断层成像中的电子透过率非线性效应 被引量:1
15
作者 曹猛 李瀛台 +1 位作者 张海波 王芳 《西安交通大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第6期50-54,共5页
为提高透射电子显微术中厚样品电子断层成像的质量,研究了电子透过率与样品质量厚度之间的非线性关系对厚样品电子断层成像的影响.在微米量级厚样品电子透过率实测结果的基础上,通过计算机模拟生成系列投影像并进行了图像重构.模拟结果... 为提高透射电子显微术中厚样品电子断层成像的质量,研究了电子透过率与样品质量厚度之间的非线性关系对厚样品电子断层成像的影响.在微米量级厚样品电子透过率实测结果的基础上,通过计算机模拟生成系列投影像并进行了图像重构.模拟结果表明,电子透过率的非线性会在重构结果中产生伪结构,投影值偏离量随投影位置的变化率与伪结构相关.进一步评价了样品在不同倾斜角度范围时电子的非线性透过率对图像重构质量的影响,发现这种影响随样品倾斜角度增大而增强,并有可能降低图像重构的质量. 展开更多
关键词 断层成像 透射电子显微术 非线性效应 厚样品
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电子全息在自旋电子学及半导体多量子阱材料研究中的应用
16
作者 张泽 王勇 +2 位作者 刘玉资 戴涛 张喆 《电子显微学报》 CAS CSCD 2005年第4期244-244,共1页
关键词 半导体量子阱 自旋电子 材料研究 多量子阱 电子全息 高分辨电子显微 透射电子显微术 应用 信息科学技
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复杂位错 TEM 分析的计算机图象匹配技术
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作者 张津徐 戎咏华 胡赓祥 《上海交通大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第2期32-35,共4页
介绍了透射电镜(TEM)位错象的计算机模拟技术及多束暗场模拟.应用该技术有助于澄清Ll2Al3Ti基有序合金中位错分解性质的争议,并确定了在500℃变形的Al67Mn8Ti25合金中存在以SISF方式分解的超点阵位错.
关键词 计算机模拟 透射电子显微术 位错 金属 晶体
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多铁性BiFeO_3/SrTiO_3多层膜的透射电镜研究 被引量:1
18
作者 唐兆俊 王君伟 +2 位作者 朱银莲 唐为华 马秀良 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2010年第4期338-343,共6页
本文利用透射电子显微镜(TEM)研究了由磁控溅射法生长的多铁性BiFeO3/SrTiO3多层膜的微观结构。衍衬分析及高分辨电子显微(HRTEM)像显示出界面清晰的各个单层。BiFeO3外延生长在SrTiO3(001)衬底上,生长方向沿基体c轴。随着薄膜厚度的增... 本文利用透射电子显微镜(TEM)研究了由磁控溅射法生长的多铁性BiFeO3/SrTiO3多层膜的微观结构。衍衬分析及高分辨电子显微(HRTEM)像显示出界面清晰的各个单层。BiFeO3外延生长在SrTiO3(001)衬底上,生长方向沿基体c轴。随着薄膜厚度的增加,即多层膜周期的加长,层与层之间界面不再平直。原子序数Z衬度成像,EDS线扫以及各种元素的能量过滤综合分析确定了多层膜的成分变化特征。 展开更多
关键词 多铁性 多层膜 界面 透射电子显微术
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NaCl晶体的电子激发分解研究 被引量:1
19
作者 周建军 郑安琪 +2 位作者 徐涛 尹奎波 孙立涛 《真空科学与技术学报》 CAS CSCD 北大核心 2021年第9期865-870,共6页
通过原位高分辨率透射电子显微镜研究了NaCl晶体的电子激发分解(ESD)过程。实验发现在电子束辐照下,NaCl晶体的不同表面会以相似的分解速率减小。NaCl晶体的外壳层会有许多钠颗粒形成,随着ESD过程的进行,钠颗粒会聚结成大的Na颗粒。在... 通过原位高分辨率透射电子显微镜研究了NaCl晶体的电子激发分解(ESD)过程。实验发现在电子束辐照下,NaCl晶体的不同表面会以相似的分解速率减小。NaCl晶体的外壳层会有许多钠颗粒形成,随着ESD过程的进行,钠颗粒会聚结成大的Na颗粒。在发生电子激发分解的NaCl晶体内部,存在丰富的矩形岛状结构,这种矩形结构的尺寸约为4-7 nm,其中一些拐角发生破缺形成扭结点,同时在NaCl晶体内部也发现了大量位错。研究还发现,碳氢化合物包裹层可以减缓NaCl薄膜的电子激发分解过程。 展开更多
关键词 氯化钠 电子激发分解 透射电子显微术
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氧化物界面的原子/电子结构
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作者 祝国珍 《中国材料进展》 CAS CSCD 北大核心 2016年第5期356-360,355,共5页
随着薄膜制备技术的发展和理想氧化物界面的实现,氧化物界面表现出如超导性等诸多优异特性,成为新一代电子器件的有力候选材料。相较金属和半导体界面而言,氧化物界面的特性更具有局域性,故阐明其界面处的原子/电子结构显得更为重要。... 随着薄膜制备技术的发展和理想氧化物界面的实现,氧化物界面表现出如超导性等诸多优异特性,成为新一代电子器件的有力候选材料。相较金属和半导体界面而言,氧化物界面的特性更具有局域性,故阐明其界面处的原子/电子结构显得更为重要。界面并不能独立于体相而单独存在,因此研究界面问题的关键是如何提取掩埋在体相中的微弱界面信息。透射电子显微镜作为一种表征局域结构的手段,同时又具备多种技术可实现成像、衍射以及能谱分析,故成为表征氧化物界面的有力工具。通过制备截面样品,可得到氧化物界面在不同投影面的二维结构,进而重构界面的三维原子结构。此外,通过采集包含不同比重界面信号的一组实验数据,可通过数学分析方法分离出界面信号。这种方法在研究界面和界面的电子结构等问题上具有一定优势。 展开更多
关键词 氧化物 界面 透射电子显微术 原子结构 电子结构
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