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Al-Cu纳米薄膜时效处理后沉淀相显微组织的TEM表征
被引量:
2
1
作者
徐山清
王晓东
+1 位作者
戎咏华
徐祖耀
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2006年第B08期99-100,共2页
关键词
过时效处理
纳米薄膜
沉淀相
tem
表征
显
微组织
AL-CU合金
过饱和固溶体
透射
电子
显
微镜
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职称材料
电铸超细晶Cu超高速变形机理的TEM研究
2
作者
范爱玲
高红叶
+1 位作者
田文怀
孙起
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第5期679-680,共2页
关键词
电铸
超细晶Cu
超高速变形机理
tem
塑性变形
显
微组织
铜
透射
电子
显
微镜
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职称材料
高性能聚焦离子束(FIB)系统及其在材料科学领域的应用
被引量:
9
3
作者
周伟敏
吴国英
《实验室研究与探索》
CAS
2004年第9期19-20,52,共3页
采用液态镓作为离子源的FIB系统在材料科学研究领域可以起非常重要的作用。离子束聚焦于样品表面,在不同大小、束流及通入不同辅助气体的情况下,可分别实现图形刻蚀、绝缘和金属膜的沉淀,扫描离子成像等功能。该系统有三大用途:形貌观察...
采用液态镓作为离子源的FIB系统在材料科学研究领域可以起非常重要的作用。离子束聚焦于样品表面,在不同大小、束流及通入不同辅助气体的情况下,可分别实现图形刻蚀、绝缘和金属膜的沉淀,扫描离子成像等功能。该系统有三大用途:形貌观察,分辨率高达5nm;微刻蚀以及微沉淀。本文介绍了FIB技术的应用。
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关键词
聚焦离子束
显
微镜(FIB)
透射
电子
显
微分
析
(
tem
)
材料科学
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职称材料
题名
Al-Cu纳米薄膜时效处理后沉淀相显微组织的TEM表征
被引量:
2
1
作者
徐山清
王晓东
戎咏华
徐祖耀
机构
上海交通大学材料科学与工程学院
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2006年第B08期99-100,共2页
关键词
过时效处理
纳米薄膜
沉淀相
tem
表征
显
微组织
AL-CU合金
过饱和固溶体
透射
电子
显
微镜
分类号
TB383.1 [一般工业技术—材料科学与工程]
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职称材料
题名
电铸超细晶Cu超高速变形机理的TEM研究
2
作者
范爱玲
高红叶
田文怀
孙起
机构
北京科技大学材料物理与化学系
北京
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第5期679-680,共2页
关键词
电铸
超细晶Cu
超高速变形机理
tem
塑性变形
显
微组织
铜
透射
电子
显
微镜
分类号
TQ153.4 [化学工程—电化学工业]
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职称材料
题名
高性能聚焦离子束(FIB)系统及其在材料科学领域的应用
被引量:
9
3
作者
周伟敏
吴国英
机构
上海交通大学金属基复合材料国家重点实验室
上海交通大学国家教育部高温材料及高温测试重点实验室
出处
《实验室研究与探索》
CAS
2004年第9期19-20,52,共3页
基金
国家自然科学基金项目(50171042)
文摘
采用液态镓作为离子源的FIB系统在材料科学研究领域可以起非常重要的作用。离子束聚焦于样品表面,在不同大小、束流及通入不同辅助气体的情况下,可分别实现图形刻蚀、绝缘和金属膜的沉淀,扫描离子成像等功能。该系统有三大用途:形貌观察,分辨率高达5nm;微刻蚀以及微沉淀。本文介绍了FIB技术的应用。
关键词
聚焦离子束
显
微镜(FIB)
透射
电子
显
微分
析
(
tem
)
材料科学
Keywords
focused ion beam(FIB)
transmission electron microscopy(
tem
)
materials science
分类号
TH89 [机械工程—精密仪器及机械]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
Al-Cu纳米薄膜时效处理后沉淀相显微组织的TEM表征
徐山清
王晓东
戎咏华
徐祖耀
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2006
2
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职称材料
2
电铸超细晶Cu超高速变形机理的TEM研究
范爱玲
高红叶
田文怀
孙起
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2002
0
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职称材料
3
高性能聚焦离子束(FIB)系统及其在材料科学领域的应用
周伟敏
吴国英
《实验室研究与探索》
CAS
2004
9
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职称材料
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