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精密检测与定位技术的研究 被引量:5
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作者 张金龙 余玲玲 刘京南 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第6期754-756,759,共4页
介绍了透射式激光莫尔信号的特性 ,并建立了双光栅衍射的数学模型。在此基础上设计了一套以工业控制计算机为核心的精密检测定位装置 ,利用两组衍射光栅 ,取其透射零次激光莫尔信号的差信号为控制信号 ,由微机控制实现高精度位置检测及... 介绍了透射式激光莫尔信号的特性 ,并建立了双光栅衍射的数学模型。在此基础上设计了一套以工业控制计算机为核心的精密检测定位装置 ,利用两组衍射光栅 ,取其透射零次激光莫尔信号的差信号为控制信号 ,由微机控制实现高精度位置检测及自动定位。系统采用的差动光栅技术 ,极大地提高了位置检测信号的灵敏度与定位精度 ,实验结果表明 ,精密定位装置可获得± 0 .15μm的定位精度 ,对精密加工工程领域具有重要的实用价值。 展开更多
关键词 定位技术 衍射光栅 莫尔信号 定位精度 激光 透射 灵敏度 精密检测 位置检测 工业控制计算机
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X射线TICT在复合材料工件检测中的射束硬化拟合校正研究 被引量:5
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作者 彭光含 蔡新华 +2 位作者 韩忠 周日峰 杨学恒 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2007年第9期1882-1885,共4页
X射线TICT中,X射线透射物质时,发生了能谱硬化现象。使图像重建时出现伪影。因此必须进行修正。文中对X射线硬化现象进行了分析,探讨了X射线TICT在检测复合材料工件中,X射线射束和与透射厚度的关系,并根据Beer定律和X射线与物质作用的特... X射线TICT中,X射线透射物质时,发生了能谱硬化现象。使图像重建时出现伪影。因此必须进行修正。文中对X射线硬化现象进行了分析,探讨了X射线TICT在检测复合材料工件中,X射线射束和与透射厚度的关系,并根据Beer定律和X射线与物质作用的特点,通过获取X射线射束和数据,首先拟合出射束和与透射厚度的关系式,然后推导出X射线射束和校正为单色射线射束和的等效厚度与透射厚度的关系及其等效方法,最终得出X射线TICT在检测复合材料工件中X射线等效单色射线的衰减系数的射束硬化拟合值,再对此衰减系数拟合值进行卷积反投影重构,即可有效消除X射线TICT在检测复合材料工件中射束硬化造成的影响。 展开更多
关键词 X射线 透射式工业计算机断层扫描成像技术 射束硬化 拟合校正 射束和 复合材料
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连续谱X射线在ICT中辐射的散射研究 被引量:2
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作者 彭光含 杨学恒 +3 位作者 刘长青 卿莉 乔闹生 汪胜辉 《激光杂志》 CAS CSCD 北大核心 2006年第5期87-88,共2页
主要研究了连续谱X射线在透射式ICT中射入待测物质体内时发生的康普顿散射现象和二次射线辐射的散射问题。X射线透射物质时,将引起多次射线。利用连续谱X射线辐射的Beer定律,研究了X射线二次射线与一次射线定量对比关系;由二次射线辐射... 主要研究了连续谱X射线在透射式ICT中射入待测物质体内时发生的康普顿散射现象和二次射线辐射的散射问题。X射线透射物质时,将引起多次射线。利用连续谱X射线辐射的Beer定律,研究了X射线二次射线与一次射线定量对比关系;由二次射线辐射强度方程求得二次射线强度与透射厚度的定量关系,结果表明二次射线透射强度与能量无关;利用散射光子倾斜同一角度时二次射线的强度微分方程导出了透过平行板的连续谱X射线二次和高次射线辐射强度公式,最终得到透射平行板的连续谱X射线的总强度。 展开更多
关键词 散射 X射线检测 工业计算机断层扫描成像技术 连续谱 辐射
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