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组合电路随机测试的一种新方法
被引量：
1
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作者
徐拾义
《计算机工程与科学》
CSCD
2002年第2期84-87,共4页
本文在随机测试的基础上提出了逆随机测试 (ART)的新概念。在该测试序列的集合中各测试码之间的海明距离为尽可能的大 ,这样可以使不同的测试码检测到更多不同的故障 ,从而提高了测试效率和故障覆盖率。本文给出了构造逆随机测试序列 (A...
本文在随机测试的基础上提出了逆随机测试 (ART)的新概念。在该测试序列的集合中各测试码之间的海明距离为尽可能的大 ,这样可以使不同的测试码检测到更多不同的故障 ,从而提高了测试效率和故障覆盖率。本文给出了构造逆随机测试序列 (ARTS)的详细过程 ,并且严格证明了该序列的高效和正确性 ,同时还给出了用Benchmark和其它电路作为例子的实验结果。
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关键词
组合电路
随机
测试
超大规模集成电路
逆随机测试
故障覆盖率
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职称材料
题名
组合电路随机测试的一种新方法
被引量：
1
1
作者
徐拾义
机构
上海大学计算机学院
出处
《计算机工程与科学》
CSCD
2002年第2期84-87,共4页
基金
国家自然科学基金资助项目 (69873 0 3 0)
文摘
本文在随机测试的基础上提出了逆随机测试 (ART)的新概念。在该测试序列的集合中各测试码之间的海明距离为尽可能的大 ,这样可以使不同的测试码检测到更多不同的故障 ,从而提高了测试效率和故障覆盖率。本文给出了构造逆随机测试序列 (ARTS)的详细过程 ,并且严格证明了该序列的高效和正确性 ,同时还给出了用Benchmark和其它电路作为例子的实验结果。
关键词
组合电路
随机
测试
超大规模集成电路
逆随机测试
故障覆盖率
Keywords
random testing
anti random testing
fault coverage
Hamming distance
distance effect
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
组合电路随机测试的一种新方法
徐拾义
《计算机工程与科学》
CSCD
2002
1
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